马 磊
黄 萍
Adam Smith
市场开发经理
姚 远
LTE发射机ACLR性能的测量技术
相邻信道泄漏功率比ACLR 是 LTE 射频发射机一致性测试中的一个重要的发射机特性。这些测试的目的是验证被测件是否达到了基站(eNB)和用户设备(UE)中的最低要求。装有 LTE 特定信号生成软件的信号发生器、装有 LTE 特定测量软件的现代化信号分析仪,以及针对该分析仪优化的方法,可以帮助测试人员战胜这一挑战。
射频波束赋形技术改善TD-LTE蜂窝小区边缘性能
使用多天线波束赋形发射技术可以发挥关键的改善作用,尤其是对TD-LTE网络而言,因为在该 网络中上下行链路频率是相同的,可以假设信道互易。波束赋形的主要测试挑战是需要验证和显示物理射频天线阵列的波束赋形信号性能,以便对以下指标进行验证:1、eNB 射频天线校准精度;2、基带编码波束赋形加权算法正确性;3、射频天线处的MIMO信号和双层EVM。
MIMO的多变催生多种测试解决方案
多入多出(MIMO)天线系统的多样性和持续发展特性迫使测试公司要努力走在行业要求的前面。根据完成测试的场所不同,从学术和行业研发实验室到产品质量认证和制造,或是从IC到基站到手机,具体要求都有相当大的变化。研发实验室中验证尖端性能的最新测试测量技术,以及针对美国和其它地区的高成本效益生产测试近来都在发生变化。
利用ACK应答测量WLAN接收机指标的方法介绍
WLAN设备接收机测试传统的方法是仪表发射一定数量的数据包后,查询DUT正确接收的数量,然后计算误包率。这种方法需要有查询DUT的操作,不仅需要DUT的控制指令或软件支持,而且增加了实现的复杂度和时间开销。莱特波特公司WLAN测试仪IQxel创新的提出利用IEEE802.11规范中定义的ACK应答机制测量接收机指标的方法,不仅简化了测试过程,也提高了测试效率。
以软件为核心的无线测试系统设计与应用
NI提出的基于PXI的无线测试平台提供了一种"打破常规"的解决思路。即使用基于PXI的模块化射频组件,用户通过软件定义仪器的功能,并实现自定义的无线测试应用。针对快速演进的通信协议,基于NI PXI的无线测试方案,只需要升级与之相对应的最新无线工具包,即可进行最新标准的测试。
LTE测试技术进步显著 未来仍面临三重关
LTE网络、2G和3G网络将长期共存,共同发展,多模、多制式、多频的融合也是运营商建设LTE网络的基本策略之一。经过业界的持续努力与实验网的验证,LTE网络测试领域已取得了很大进步。但在多网协同的发展方向上,仍面临诸多挑战,需要进一步积极应对。
从芯片研发到终端生产,从网络部署到服务保证,LTE的测试需要多种仪器,下面是市场上的部分测试仪器。
安捷伦E7515A无线综测仪
NI LTE测量套件
安捷伦便携频谱仪
艾法斯LTE-A基站测试仪
罗德与施瓦茨VoLTE测试解决方案
莱特波特IQxel-M8
- R&S CMW500的新特性助力手机开展LTE-A和VoLTE测试
- 罗德与施瓦茨公司2013年TD-LTE创新峰会成功举办
- 艾法斯推出单机箱LTE-A基站测试仪
- 艾法斯显著缩短服务中心LTE移动终端的测试时间
- 聚焦4G,安捷伦测试测量大会引领行业创新
- 全新 Agilent EXM 无线测试仪重磅出击 确保 LTE-Advanced、802.11ac WLAN 设备批量生产
- LitePoint推出在实验室测试LTE蜂窝设备的新解决方案
- LitePoint:掀起智能终端测试革命
- NI推出新一代软件定义仪器:200MHz矢量信号收发仪 可满足802.11ac、160MHz WLAN和LTE Advanced等新标准
- 安立公司多测试系统在LTE Advanced载波聚合的GCF认证中取得领先地位
- 思博伦集成解决方案确保VoLTE成功部署
- 福禄克首推针对蜂窝卸载部署频谱的分析工具