泰克参加【第四届半导体青年学术会议】，助力半导体与集成电路行业技术发展和革新

时间：2023-05-06 15:52:50

关键字：半导体集成电路

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[导读]在5月4日至7日的【第四届半导体青年学术会议】期间，泰克将集中展示最新测试方案，为神经形态器件与脑类计算、低维半导体材料测试、半导体量子器件测试等前沿研究提供全面领先解决方案。

2023年5月6日，中国北京——为持续推进我国半导体与集成电路产业的前沿探索和核心技术攻关，探讨行业最新创新进展和发展趋势，2023中国电子学会【全国电子信息青年科学家论坛之第四届半导体青年学术会议】于2023年5月4日至7日在上海市召开。会议以“半导体前沿技术与集成电路设计”为主题，会议内容包括主论坛、青年学者沙龙和专题论坛三大板块，其中专题论坛将围绕半导体领域十四个关键研究方向分专题进行学术交流。

作为一家全球领先的测试、测量和监测解决方案知名品牌，泰克近年来与客户、合作伙伴联手一道解决前沿探索过程中的种种难题，助力半导体与集成电路行业的技术发展和革新。在【第四届半导体青年学术会议】期间，泰克将集中展示最新测试方案，为神经形态器件与脑类计算、低维半导体材料测试、半导体量子器件测试等前沿研究提供全面领先解决方案。

为神经元网络测试提供定制化开发和集成

类脑计算是借鉴神经科学处理信息的基本原理，面向人工智能，发展新的非冯诺依曼计算的新技术，类脑计算的基础是人工神经元网络。人工神经元网络是由大量处理单元互联组成的非线性、自适应信息处理系统，它通常是由新型高速非易失存储器组成的阵列构成，新一代高速存储器包括阻变存储器、相变存储器、铁电存储器等两端器件和半浮栅晶体管，电解质栅晶体管等三端器件。

神经元网络阵列维数越高，拓扑越复杂，所需的测试通道就越多，测试成本也越高，测试流程也会变得更复杂。最新的研究成果显示，神经元网络阵列研究已经达到32x32三端器件节点组成的阵列，并在短期内有向更高的维度发展的趋势。由于神经元网络阵列测试系统价格昂贵，连接及流程控制复杂，通常的解决方法是用FPGA搭建测试装置，但测试精度以及权威性都无法与由专业的高精度测试仪器组成的测试系统相提并论。

对适当维数的神经元网络阵列，如32x32两端节点或16x16三端节点阵列，用高精度测试仪器搭建测试系统的价格还是可以接受的。测试系统的优点在于它不仅能够进行功能性测试，还能以极高的测试精度完成神经元网络阵列的训练，深度学习等方面的研究探索。

神经元网络阵列测试，首先需要根据被测节点的表征参数选择合适的测试仪器，其次还要根据被测阵列的芯片管教布局定制探卡，最后要根据测试项目定制软件，实现自动化测试。泰克忆阻器/神经元网络测试系统包含单元测试及阵列测试两大类，每一大类又包含不同的配置以满足不同研究阶段的测试需求。泰克公司中国研发中心可以为这一领域的客户提供定制开发及系统集成。

泰克神经元网络阵列测试系统S500，可以被定制为以下三种配置：

1. 两端器件阵列通用测试方案：a.全定制化；b.基于26系列源表；c.最高32x32。

2. 三端器件阵列通用测试方案：a.全定制化；b.基于26系列源表；c.最高16x16。

3. 极端化表征阵列测试方案：a.全定制化；b.适用于两端及三端器件阵列；c.最高8x8；d.基于26系列源表、AWG5208和MSO68B。

应对二维/石墨烯材料及电子器件测试挑战

电阻率及霍尔效应测试均是加流测压的过程，需要设备能输出电流并且测试电压，这意味着同时需要电流源和电压表，并且电流源和电压表精度要高，保证测试的准确性。