当前位置:首页 > 厂商动态 > 泰克科技(Tektronix)
[导读]双脉冲测试软件(WBG-DPT)包括一种新的专为双脉冲测试设计的消除时序偏差(deskew)的校准技术。这种新的方法与传统方法大有不同,测试速度显著加快,缩短了测试时间。在本篇文章中,我们将使用FET术语,来使得描述简单明了。

双脉冲测试中一个重要目标是,准确测量能量损耗。在示波器中进行准确的功率、能量测试,关键的一步是在电压探头和电流探头之间进行校准,消除时序偏差。

双脉冲测试软件(WBG-DPT)在4系、5系和6系示波器上均可使用,该软件包括一种新的专为双脉冲测试设计的消除时序偏差(deskew)的校准技术。这种新的方法与传统方法大有不同,测试速度显著加快,缩短了测试时间。

该技术适用于使用场效应晶体管或IGBT的功率转换器。在本篇文章中,我们将使用FET术语,来使得描述简单明了。

为什么要消除时序偏差(deskew)?

在设计任意一种功率变换器时,都必须尽量减少开关过程中的能量损耗。这种能量损耗可以使用示波器进行测量。一般方法是将同一时刻的电压和电流采样相乘,生成功率波形。

p(t) = v(t)*i(t)

由于功率波形表示随时间变化的能量消耗,因此可以通过对功率波形进行积分来确定能量:

E = ∫p(t)dt

要准确测量能量损耗,电流和电压波形的转换应在时间上保持一致。因此,为了准确进行能量损耗测量,设计者必须矫正测试夹具和探头造成的延迟。

一般来讲,在测试装置上开始任何测量之前都要计算探头之间的偏差。对于低电压应用,可以使用函数发生器和时序偏差校准夹具(deskew夹具)(Tektronix P/N 067-1686-03)进行校准。但是,这种方法对于高电压和大电流应用而言,并非最佳选择。

为了匹配更高功率下低压漏-源极电压(VDS)和漏极电流(ID)的测量,传统技术需要重新布线测试装置。这要求移除负载电感,并用电阻取而代之。接下来进行测量,需要匹配VDS和ID测量值。这个过程可能需要一个小时或更长时间。

一种新的时序偏差校准(deskew)方法

泰克WBG-DPT解决方案是业内首创的基于软件的时序偏差校准(deskew)技术,无需重新布线,只需在进行双脉冲测量后即可执行。在新方法中,采集漏极电流(ID)用作参考波形。在导通期间,利用测试电路的参数模型计算出低压侧VDS对齐波形,其计算后的波形参考ID波形,相对于ID没有时序偏移。消除时序偏差的算法确定计算出的VDS波形与测量出的VDS波形之间的时序偏差。然后将deskew校准的数据修正到VDS测量通道。

时序偏差校准过程

如上所述,时序偏差校准可在测量后进行。在开始双脉冲测试时,无需担心VDS和ID之间的偏差,随后选择deskew设置并提供以下参数:

探头阻抗 - 在本文中假定为电流检测电阻(CVR)或分流电阻

有效“回路”电感

偏置电压(低压侧FET关断时两端的平均VDS)

差分阶数(模型用于平滑的滤波器阶数)

图3. 用于建立VDS_low对齐波形的等效电路。该电路假定使用一个电流观察电阻来测量ID。

在deskew菜单中输入的参数用于构建VDS对应波形。波形使用基尔霍夫电压定律建立:

其中:

VDD - VDS_high表示电源轨电压和高压端场效应晶体管FET上的压降(需要注意,在开启期间,由于VDD是固定的,而VDS_high是高压端场效应晶体管FET本体二极管上的电压,所以这个量是恒定的)。

Rshunt是分流电阻。

ID是根据Rshunt上的压降测得的漏极电流。

dID/dt是测得的漏极电流变化率。

Leff是整个电源回路的有效电感。

如上所述,在开启期间,VDD - VDS_high实际上是恒定的。Rshunt和Leff也是恒定的。这意味着,模拟的VDS_low走线波形是ID的函数。

配置完参数后,用户按下WBG的deskew按钮。系统将根据指定的参数和漏极电流生成VDS的数学模型。该波形将显示在屏幕上。

图4. 根据ID计算出的VDS对齐波形与测量的VDS波形进行比较。偏移是对齐波形和测量波形之间的时间差。计算出偏斜后,就可以从ID波形中去除偏斜。

如上图所示,有效电感Leff考虑到了整个环路的“叠加”。因此,Leff通常是未知的,而这个参数需要反复调整。简单地将纠偏过程反复运行,并对Leff进行调整,直到计算出的对齐波形和测量出的VDS波形具有相同的形状。如果计算出的VDS对齐波形与测量的VDS波形在形状上存在差异,可以调整参数并再次运行校准时间偏差。

一旦参数设置准确,对齐波形和测量波形将具有相同的形状,系统就能确定并纠正偏斜。偏斜值显示在Deskew设置中,并自动应用于连接VDS信号的通道。

这一新流程可以准确地计算偏斜值,并将时序偏差校准时间从一小时或更长时间缩短到5至10分钟。

要了解有关双脉冲测试的更多信息,请访问双脉冲测试网页:https://www.tek.com.cn/solutions/industry/power-semiconductor/double-pulse-testing

关于泰克科技

泰克公司总部位于美国俄勒冈州毕佛顿市,致力提供创新、精确、操作简便的测试、测量和监测解决方案,解决各种问题,释放洞察力,推动创新能力。70多年来,泰克一直走在数字时代前沿。欢迎加入我们的创新之旅,敬请登录:tek.com.cn

本站声明: 本文章由作者或相关机构授权发布,目的在于传递更多信息,并不代表本站赞同其观点,本站亦不保证或承诺内容真实性等。需要转载请联系该专栏作者,如若文章内容侵犯您的权益,请及时联系本站删除。
换一批
延伸阅读

9月2日消息,不造车的华为或将催生出更大的独角兽公司,随着阿维塔和赛力斯的入局,华为引望愈发显得引人瞩目。

关键字: 阿维塔 塞力斯 华为

加利福尼亚州圣克拉拉县2024年8月30日 /美通社/ -- 数字化转型技术解决方案公司Trianz今天宣布,该公司与Amazon Web Services (AWS)签订了...

关键字: AWS AN BSP 数字化

伦敦2024年8月29日 /美通社/ -- 英国汽车技术公司SODA.Auto推出其旗舰产品SODA V,这是全球首款涵盖汽车工程师从创意到认证的所有需求的工具,可用于创建软件定义汽车。 SODA V工具的开发耗时1.5...

关键字: 汽车 人工智能 智能驱动 BSP

北京2024年8月28日 /美通社/ -- 越来越多用户希望企业业务能7×24不间断运行,同时企业却面临越来越多业务中断的风险,如企业系统复杂性的增加,频繁的功能更新和发布等。如何确保业务连续性,提升韧性,成...

关键字: 亚马逊 解密 控制平面 BSP

8月30日消息,据媒体报道,腾讯和网易近期正在缩减他们对日本游戏市场的投资。

关键字: 腾讯 编码器 CPU

8月28日消息,今天上午,2024中国国际大数据产业博览会开幕式在贵阳举行,华为董事、质量流程IT总裁陶景文发表了演讲。

关键字: 华为 12nm EDA 半导体

8月28日消息,在2024中国国际大数据产业博览会上,华为常务董事、华为云CEO张平安发表演讲称,数字世界的话语权最终是由生态的繁荣决定的。

关键字: 华为 12nm 手机 卫星通信

要点: 有效应对环境变化,经营业绩稳中有升 落实提质增效举措,毛利润率延续升势 战略布局成效显著,战新业务引领增长 以科技创新为引领,提升企业核心竞争力 坚持高质量发展策略,塑强核心竞争优势...

关键字: 通信 BSP 电信运营商 数字经济

北京2024年8月27日 /美通社/ -- 8月21日,由中央广播电视总台与中国电影电视技术学会联合牵头组建的NVI技术创新联盟在BIRTV2024超高清全产业链发展研讨会上宣布正式成立。 活动现场 NVI技术创新联...

关键字: VI 传输协议 音频 BSP

北京2024年8月27日 /美通社/ -- 在8月23日举办的2024年长三角生态绿色一体化发展示范区联合招商会上,软通动力信息技术(集团)股份有限公司(以下简称"软通动力")与长三角投资(上海)有限...

关键字: BSP 信息技术
关闭