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[导读]据2001 年的国际半导体技术未来发展预示,到2016 年MOSFETs 的物理沟道长度将达到低于10nm 的尺寸[1],而这种尺寸条件会影响到MOSFETs 的基本工作原理,因此必须寻找新的替代器件。单电子晶体管(Single-Electron Tra

据2001 年的国际半导体技术未来发展预示,到2016 年MOSFETs 的物理沟道长度将达到低于10nm 的尺寸[1],而这种尺寸条件会影响到MOSFETs 的基本工作原理,因此必须寻找新的替代器件。单电子晶体管(Single-Electron Transistor,SET)具有较小体积、较低功耗和较高开关速度性能,其高度集成化远远超过目前大规模集成化的极限,被认为是下一代超大规模集成电路的理想器件[2]。同时SET 与MOSFET 具有很好的互补性:SET 的功耗低、可集成度高、有库仑振荡新特性等优点,而MOSFET 器件的高速、高电压增益和高驱动特性可以补偿SET 固有的缺点。因此,将来SET 与MOSFET 的混合在集成电路中共同占主导地位,对于解决纳米尺寸的集成电路具有很好的应用前景[3, 4]。

  单电子进出量子点(岛)使其上的静电势和能量状态发生很大变化,它就可以作为传递数值信息的载体,制备成单电子存储器和单电子逻辑电路等等。因此,SET 在现代电路的微电子领域有潜在的应用价值,特别是在计算机和数字系统中,经常要对两个数的大小进行选择决策,因此,本文基于数字逻辑电路的设计思想,首先研究了双栅极SET 的输入特性,再利用SET/MOSFET 通用方波门特性讨论了具有‘与’、‘或’和‘异或’等功能的电路,并利用这些电路构造了一位比较器电路结构,最后用SET 的MIB 模型[5]进行了仿真验证。

  2. 混合SET/MOSFET 结构与特性

  2.1 双栅极SET 的特性

  SET 由源极、漏极、与源漏极耦合的量子点(岛)、两个隧穿结和用来调节控制量子点中电子数的栅极组成。双栅极单电子晶体管可以等效为一个四端元件[6],如图1(a)所示。图中CD和CS为隧穿结电容, RD和RS为隧穿结电阻,CG1和CG2为栅极电容,VG1和VG2为栅极电压,VDS为偏置电压。

图1 (a)双栅极SET的等效示意图 (b)双栅极SET的I-V特性

  当漏极与源极间电压VDS不变时,随着栅极电压VG1的变化,两个隧穿结上电压也随之相应变化,当隧穿结上电压大于开启电压时,就会发生电子隧穿效应,即电子离开量子点(岛),隧穿出一个结;或者电子隧穿一个结,进入到量子点(岛)。这种隧穿过程随着VG的变化呈现为周期性如图1(b)所示。当VDS较小,漏极与源极间电流iDS表现出所谓的库仑振荡形式,其振荡电压的间隔是e/CGS1(e 是基本电荷)。另外,当VGS2<0 时,相位向右移动;当VGS2>0 时,相位向左移动。但如果VGS2<0 且VGS2较大时,会产生较高的势垒,阻碍了隧穿电流的产生,所以GS2 V 取值一般不应太小[7]。

  2.2 双栅极SET 与MOSFET 的混合特性

  由SET 的周期振荡特性和MOSFET 的阈值电压特性可构成双栅极SET/MOSFET 通用方波电路[8],它是构成逻辑门电路的基本单元,如图2 所示。

  图中双栅SET/MOSFET 的通用方波电路由SET、MOSFET 和恒流源构成。SET 的漏极电压由Vgg 控制,Vgg-Vth 要足够低以确保SET 漏源电压近似恒定工作在库仑振荡条件下,Vcon控制漏电流周期振荡的相位。接入恒流源Io 后,当Ids<Io 时,输出电压为高电平;当Ids>Io时,输出电压为低电平。同时,这里的恒流源Io 可利用耗尽型NMOSFET 设置加以实现。

  数字电路中,最基本的单元在于逻辑门设计。在上述电路基础上,由双栅SET/MOSFET基本电路单元可构造出所需的逻辑‘与或非’、‘异或’等基本门电路结构[9],如图(3)所示。当a=0,b=1 时,SET并联门实现逻辑函数Z =X•Y功能;当a=1,b=0 时,SET并联门实现逻辑函数Z =X•Y功能。当a=0,SET求和门实现逻辑函数Z =X⊕Y功能;当a=1,SET求和门实现逻辑函数Z =X⊕Y功能。

图3 SET/MOSFET 构成的逻辑门电路及相应符号

  3 SET/MOSFET 数值比较器的实现

  在计算机和数字系统中,特别是在计算机中都具有运算功能,一种简单而又常用的运算是比较两个数X 和Y 的大小,因此,在多情况下都用到数字比较器,需要判断出X>Y,X<Y, X =Y三种情况,其中应用最广泛的是反馈量和给定量之间的比较。一位数字比较器的逻辑表达式为:

(X>Y)=XY (1)

  利用a=1,b=0 时的SET 并联门电路实现;

(X<Y)=XY (2)

  利用a=0,b=1 时的SET 并联门电路实现;

(X=Y)=XY+XY (3)

  利用a= 1 时的SET 求和门电路实现。

结合以上分析,利用SET/MOSFET 的混合结构设计出一位比较器的电路,如图4 所示。

图4 一位比较器电路图

  由图4 可以看出,一位比较器由五个双栅SET,三个耗尽型NMOSFET,三个恒流源构成。结构简单,实现容易,更重要的是它的管子数大大减少,有利于进一步提高集成度,较好的适应了集成电路的发展要求,同时MOSFET 晶体管的高速、高驱动性为下一级电路的提供了可靠的工作环境。

  4 仿真分析

  Mahapatra, Ionescu, Banerjee 等人2004 年提出SET 的MIB 数学模型[5]。该模型可以精确地描述SET 低温低功耗下的I-V 特性。适当选取SET/MOSFET 的各物理参数使用该模型对该一位比较器进行仿真,得到图5 的参数仿真分析结果,各参数选取如表1 所示。

  图5 中X 和Y 为输入信号,Z 为输出信号。当输入X 为高电平信号,Y 为低电平信号,输出Z 实现的是X>Y 功能,如图5 所示。同理可得,当输入X 为低电平信号,Y 为高电平信号,输出Z 实现的是X<Y 功能;当输入X 为高(或低)电平信号,Y 为高(或低)电平信号,输出Z 实现的是X=Y 功能。首先,从仿真结果可见,波形较好地反映了一位比较器的功能,验证了利用混合双栅极SET/MOSFET 实现‘同或’功能的正确性。其次,比较器的输入高低电平分为110mV 和0V,而输出高低电平逼近于1V 和0V,从数据分析结果可见,低输入高输出电压可较好地驱动负载电路。最后,由MIB 的仿真模型,可以算出通过偏置电压VDD 的漏电流为6.3E-9A ,从而得出该比较器的静态总功耗为6.3nW。所以用SET/MOSFET 构成的电路具有极低的功耗,量级为nW 级,它比CMOS 电路低4-5 个量级。

  5 结论

  本文作者创新点:基于数字电路的逻辑设计思想,利用SET/MOSFET 混合结构的传输特性,设计构造了一位数值比较器结构。通过仿真分析和验证,该比较器的优点有:结构简单;传输特性好;驱动负载工作能力强,通过适当选取混合SET/MOSFET 的各个物理参数,尤其是SET 的物理参数,可以达到低输入电压和高输出电压;同时利用混合双栅极SET/MOSFET 实现‘同或’功能大大减少了管子的数目,更进一步提高了集成度,降低了功耗,更有利于大规模集成电路的实现。

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