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[导读]摘要:为设计一款便携式频率特性测试仪,该系统以大规模可缡程逻辑器件为实现载体,采用了基于FPGA体系结构的集成化设计方案,以VHDL为设计语言,设计了包含扫频信号源、测幅、测相及显示等电路,系统经峰值检测和相

摘要:为设计一款便携式频率特性测试仪,该系统以大规模可缡程逻辑器件为实现载体,采用了基于FPGA体系结构的集成化设计方案,以VHDL为设计语言,设计了包含扫频信号源、测幅、测相及显示等电路,系统经峰值检测和相位检测分别完成了被测网络的幅频和相频特性测量及曲线显示,经调试功能上能满足大部分系统要求,对RC串并联电路进行测量误差为0.4%;该系统具有探作简单、成本低廉、性能稳定等特点,具有较强的实用价值与发展前景。
关键词:频率特性;现场可编程门阵列;直接数字频率合成DDS;正弦信号

    在电子测量中,经常需要对电路网络的阻抗特性和传输特性进行测量,其中传输特性包括增益和衰减特性、幅频特性、相频特性等。用来测量这些特性的仪器称为频率特性测试仪,简称扫频仪。目前市场上频率特性测试仪有模拟式和数字式两种,它们都存在体积大、价格贵、操作复杂的缺点,在实际应用中用户很难接受。本文采用了现场可编程门阵列(FPGA)及外围测量电路设计了一种简易便携式的频率特性测试仪,其性能上能满足大部分系统要求的频率响应特性的测量,具有较高的实用价值。

1 系统总体设计
   
本系统以FPGA以核心,由扫频信号源、测幅电路、测相电路、有效值检测、整形电路、LCD触摸屏等模块构成。系统总体结构框图如图1所示。系统工作时,由扫频信号源输出频率可步进的正弦信号作为被测网络的输入信号,信号经过被测网络一路送到有效值检测电路中进行幅值检测,该幅度值与与扫频信号源输出信号的幅值进行比较,得到该点的幅频响应;另一路信号送到整形电路限幅整形后送至FPGA内部的测相电路进行相位差的测量,将相位差与信号的整个周期进行比较,就可以得到该点的相频响应。



2 系统主要模块设计
2.1 扫频信号源的设计
   
直接数字式频率合成DDS具有相对带宽高,频率转换时间短,频率分辨率高,及输出相位连续,频率、相位和幅度均可实现程控的优点,扫频信号源选择采用DDS信号源。实现过程如图2所示,将待产生的正弦波数据存入波形存储器中,在时钟信号fclk的控制下,通过由频率控制字M控制的相位累加器输出相位码,将存储于波形存储器中的波形量化采样数据值读出,经D/A转换成模拟信号,再经低通滤波器滤去除D/A转换带来的小台阶和数字电路产生毛刺,获得高精度、高纯度的正弦信号。


    输出信号的频率可由公式:fout=(fc/k)/2N×M计算得到,通过改变分频比k及相位累加器步长M可以改变出信号的频率。本设计中取fc=32.768 MHz,分频比k=5,相位累加位数N=16.则频率步进最小值为:
   
    考虑到DDS的输出存在杂散噪声,信号源最大输出频率选定为1 MHz。
    数模转换采用TI公司的8位D/A芯片,其转换周期为100 ns;LPF低通滤波器采用凌特公司的1 MHz/500 kHz五阶连续时间低噪声低通椭圆滤器LTC1560-1,电路连接使其工作在截止频率为1 MHz。电路如图3所示。


2.2 幅频特性测量模块
   
该模块首先对被测网络的输出信号进行峰值检测,检测出来的峰值经A/D转换器量化成数字信号,送入到FPGA内部的测幅电路中完成处理运算得到网络的幅频特性。峰值检测选用LF398构成采样-保持电路,对输入和输出信号进行采样,筛选出峰值并予以保持。A/D转换选用TI公司生产的8位闪速结构数模转换器TLC5510,它采用CMOS工艺制造,可提供最小20 MS/s的采样率。峰值检测及A/D转换电图如图4所示。



3 相频特性测量模块
   
该模块采用相位一时间转化法。扫频信号经过被测网络只是相位和幅度发生了变化,而频率保持不变。将被测网络的输入输出信号分别通过LM393整形电路变成方波信号,电图如图5所示,将得到的两路方波信号同时送入FPGA测相电路中进行异或运算,运算后产生脉宽为Tx,周期为T的方波,测相电路只要测出Tx/T,相位差的大小也就确定了。


    相位的超前与滞后的判断则通过D触发器来完成,将整形后的被测网络的输入信号V1’加到D触发器的D端,将整形后被测网络的输出信号V2’作为触发器的CP信号,若V2’超前V1’,则对应V2’上升沿处,V1’为0,则D触发器输出为0。反之,V2’滞后V1’,则D触发器输出为1。波形如图6所示。

4 LCD触摸屏模块
   
本系统选用320x240图形点阵液晶显示模块,显示测量得到的电路网络频率特性曲线、汉字、字母、数字、图形等;在液晶显示模块的基础上再增加触摸面板。
    使用户更方便地在屏幕上对各参量进行控制,将输入界面和输出界面一体化,使人机界面更加优秀。由于液晶显示控制时序比较复杂,本系统采用FPGA将处理后的数据经过缓存后送入单片机中进行显示控制。控制过程中在界面底层通过程序绘制频率特性直角坐标系,在上方图层绘制一道可以左右移动的屏标。通过按钮(设置为低电平触发中断)控制其移动。将要显示的参数分布显示在屏幕上。

5 系统软件设计
   
系统软件设计主要由C语言和VHDL语言编写完成,前者主要完成显示控制,后者设计包括监控模块、测试功能管理模块、DDS控制模块、扫频测试模块、数据处理模块等。系统软件主流程如图7所示。

6 测试结果
   
为了验证该频率特性测试仪的性能,对图8中RC串并联电路进行了测试,显示的频率特性曲线如图9所示。理论计算可得:电路中心频率
   



7 结语
   
本系统在完成软硬件设计调试以后,对RC串并联网络进行了幅频特性测试。在测试中,系统工作稳定,较好地显示了测试电路的幅频、相频特性曲线,测量精度高,实时性强;本系统已成功运用FPGA设计了一种结构简单、成本低廉的频率特性测试仪,为以后设计便携式频率特性测试仪提供了参考和依据。

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