Sypnosys极致EDA工具TetraMAX II，缩短十倍的芯片测试时间

 一直以来，大规模芯片的测试过程都是即费时又费钱的活，TetraMAX II如何能缩短十倍的时间!

其实，芯片行业有许多让人感觉非常“蛋疼”的事情，比如芯片集成度越高，测试耗费时间越长，一颗几千万门的芯片估计要跑二十天以上才能完成测试;芯片的工艺制程越高，流片的费用越让人抓狂，28nm工艺流片费用至少千万元以上……而这些也正是许多企业对芯片行业“望而生畏”的原因。

不过，在芯片从规划、设计到流片生产的过程中，EDA工具的作用不言而喻，可谓是推动芯片行业发展的重要因素之一。作为EDA工具行业的大厂商之一，Sypnosys于7月18日在深圳发布了最新的EDA工具——TetraMAX II，旨在帮助企业进一步简化芯片的测试。

Synopsis Product MarkeTIng Manager Robert Ruiz那么，TetraMAX II到底做了哪些突破性的进展呢?

简单而言，TetraMAX II实现了三大优势，首先将运行速度提高至少一个数量级，使ATPG从数天的运行时间缩短到只有几个小时;其次生成的向量数量减少25%，使企业能够缩短测试时间并减低成本，在不影响测试成本的前提下提升测试质量;最后实现所有服务器内核(无论设计尺寸如何)的充分利用，打破了受限于高内存的解决方案。

TetraMAX II的三大优势

因此，Synopsys设计集团执行副总裁兼总经理Antun Domic表示：“TetraMAX II提供了创新性和突破性的测试技术，满足客户对更快ATPG和诊断的需求，以及减少硅晶测试时间。所以TetraMAX II已经被许多国际厂商接纳，应用于提升芯片测试的效率，加快芯片推向市面的时间。”

实际上，汽车制造商为了减少事故的发生，正在快速部署先进的技术，比如驾驶辅助系统(ADAS)。不过，由于这些系统中的故障可能导致非常严重的后果，需要汽车制造商与其供应商合力提升芯片的质量、可靠性和功能安全，同时尽量减小对测试成本和测试向量生成时间的影响。TetraMAX II已经通过认证，符合ISO 26262汽车功能安全标准，甚至是最为严格的汽车安全完整性等级(ASIL D)要求。

SGS-T?V Saar GmbH功能安全软件部门产品经理Gudrun Neumann说：“符合ISO 26262认证资格的工具，可以帮助提高工程师对于EDA软件工具的信心，放心地为电子安全系统开发汽车IC。工具达到ISO 26262最严格的ASIL D应用要求，IC设计团队就能促进产品符合整体功能安全认证要求。”

另外，意法半导体数字及混合工艺ASIC部SoC集成和DFT方法经理Roberto MatTIuzzo表示：“在过去几年中，ST与Synopsys通力合作，共同应对复杂性、成本增加等日益严重的测试挑战。TetraMAX II生产测试向量的速度加快了一个数量级，同时在不造成任何覆盖损失的前提下大幅减少了向量的数量。因此，ST面对高密度的FD-SOI芯片过程中，有信心更快的完成测试，并且缩短芯片上市时间。”

最后，东芝设计技术开发部高级经理Kazunari Horikawa表示：“较长的ATPG运行时间以及日益增长的测试向量数量带来越来越大的挑战。因此，要保持测试质量的同时实现测试成本最小化，就需要减少测试向量并缩短运行时间。TetraMax II在保持测试质量的同时，能够缩短ATPG执行时间，并将测试向量的数量减少高达50%，能够最大程度的降低我们在SoC测试上的成本。”

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