基于满足更小尺寸需求的制程技术
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随着便携式电子产品变得越来越小、越来越轻薄,制程技术也不断创新。本文将介绍的用于智能卡的FCOS封装、VIP50工艺和芯片级封装(CSP)不但满足了更小的元器件尺寸需求,而且能够实现更好的产品性能。
能满足第三代智能卡尺寸要求的FCOS封装
英飞凌公司与德国智能卡制造商Giesecke & Devrient推出的用于智能卡的FCOS封装可满足新型第三代智能卡(UICC)对尺寸的要求。FCOS模块的厚度不大于500μm,整个模块的金触点位于芯片卡的左侧。
FCOS封装(上)与金线焊接(下)的对比
FCOS模块中芯片的功能衬面直接通过导电触点与模块连接,不再需要传统的金丝和合成树脂封装。由于封装中省去了金属线,大大节约了模块空间,一方面可以在模块尺寸不变的情况下安置更大的芯片,使芯片卡具有更多的功能;另一方面也可以使芯片卡的模块尺寸更小。此外,与传统的金线焊接(bonding)技术相比,采用FCOS的芯片卡具有更强的机械稳定性和光学视觉效果、更小和更薄的模块尺寸、更强的防腐性和韧性,并且采用了非卤素材料,符合RoHS指令。
第三代智能卡的尺寸是目前SIM卡的一半
欧洲电信标准组织(ETSI)已决定在手机中使用更小尺寸的智能卡,新型第三代智能卡可应用于超薄移动电话、手持读卡器和其他终端设备。今后SIM卡的尺寸只有12mm×15mm,这要需更小的芯片卡模块,而FCOS正好能满足这一需求。
使放大器性能更高、尺寸更小的VIP50工艺
VIP50工艺是美国国家半导体独有的绝缘硅(SOI)BiCMOS工艺,适用于放大器芯片的生产。该工艺采用的薄膜电阻不但有微调功能,还具有极高的准确度,令其在很多方面都优于传统的双极或CMOS工艺。
所有VIP50的晶体管都装设于绝缘硅(SOI)圆片之上,然后以沟道互相隔离。这种隔离设计可将寄生电容减至最少,并大幅提高放大器的带宽功率比。隔离的另一优点是即使信号电压高于供电干线电压,芯片内的晶体管仍可调节有关的信号。此外,由于SOI技术可以防止漏电情况出现,即使在工厂及汽车内等极高温度的环境下操作,也不会对放大器的性能产生任何不利的影响。
VIP50工艺晶体管的隔离沟道设计
由于加设了高速垂直NPN及PNP晶体管,VIP50工艺的双极及CMOS模拟专用晶体管可以减少噪声,为调节高精度模拟信号提供一个理想的低噪声环境,同时减低了功耗。由于BiCMOS工艺添加了垂直PNP晶体管,放大器可以加设高度平衡的输出级,以便进一步提高放大器的带宽功率比。
VIP50双极晶体管与最低门长度为0.5μm的“模拟级”MOS晶体管搭配使用,不但可以发挥最佳的匹配准确度,还有助于减少中低频噪声。对于MOS晶体管是信号路径重要组成部分的系统来说,上述的两个特色便显得非常重要。添加了MOS模块之后,工程师也可将更大量的混合信号技术及数字技术集成一起。
芯片与封装面积比接近1:1的芯片级封装
CSP(Chip Scale Package)可以让芯片面积与封装面积之比超过1:1.14,已相当接近1:1的理想情况。由于电路接线最短,可在最小的引脚范围内提供最高密度内部连接,CSP能满足对产品尺寸更小设计要求,又能保持产品坚实耐用,甚至可以降低生产成本。
0.4mm间距的芯片级封装
加州微器件公司近日推出了0.4mm间距CSP Centurion EMI滤波器CM1440、CM1441和CM1442,其外形尺寸比现有的间距0.5mm的CSP产品小30%以上,比现有的TDFN产品小42%。因其性能更高、尺寸更小,非常适合为手机提供静电放电(ESD)保护
(崔晓楠 )
参考文献:
[1].CSPdatasheethttp://www.dzsc.com/datasheet/CSP_2363263.html.
[2].CM1440datasheethttp://www.dzsc.com/datasheet/CM1440_1378293.html.
[3].CM1441datasheethttp://www.dzsc.com/datasheet/CM1441_1378296.html.
[4].CM1442datasheethttp://www.dzsc.com/datasheet/CM1442_1378299.html.