CDMA2000射频测试简介(一)
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下面简单介绍一下Conducted spurious emissions when transmitting(处于发射状态的传导杂散)的测试。
测试意图:在EUT工作的状态下,通过EUT上的天线连接器使用传导方式连接到测试系统上,检测EUT处于发射时的杂散信号。
测试搭建简图:
测试方法:
1)用射频线按上图进行功分器(POWER SPLITTER)的连接,并使用信号源和频谱仪(Spectrum Analyzer)测量5515C到EUT和EUT到频谱仪这两条路径的损耗,然后记录损耗值。
2)测量完损耗后按照简图将EUT与E5515C、频谱仪连接到功分器,把功分器衰减较大的一端接到频谱仪上。
3)在E5515C上调整信道号和路径损耗的补偿,然后按照下列表格中的参数设置E5515C。
4)EUT与E5515C之间建立呼叫连接,然后将E5515C参数调到all up bits的功率控制模式,使EUT以最大功率输出。
5)在频谱仪上设置好路径损耗的补偿,然后按照以下表格根据频率分段测试传导杂散,所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值,并记录测得的数据。
6)然后按照以下表格重新设置E5515C的参数。
7)EUT与E5515C重新建立呼叫连接,把E5515C参数设置为0和1交替的功率控制模式。
8)按照以下表格重新设置频谱仪,根据频率分段测试传导杂散,所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值,并记录测得的数据。
以上是对CDMA终端传导杂散测试的简单介绍, 此后我们将分批分期的对其它涉及CDMA部分的射频测试进行一一阐述, 敬请关注。