谈谈UP TRIG 和DOWN TRIG

上文提到了上升沿和下降沿的问题,因为感觉非常实用,再详细谈一下.

沿检测在PLC中用的非常多,PLC是循环扫描的,可以看做是LABVIEW的一个WHILE循环,在PLC中是这样定义的.

DF：当检测到输入触发信号的上升沿时，仅将触点闭合一个扫描周期。
DFI：当检测到输入触发信号的下降沿时，仅将触点闭合一个扫描周期。
程序示例

示例说明
在检测到 X0的上升沿（OFF→ON）时，Y0仅为 ON一个扫描周期。
在检测到 X1的下降沿（ON→OFF）时，Y1仅为 ON一个扫描周期。

描述
当触发信号状态从 OFF 状态到 ON状态变化时，DF 指令才执行并且输出仅接通一个扫描周期。
当触发信号状态从 ON状态到 OFF 状态变化时，DFI 指令才执行并且输出仅接通一个扫描周期。
若执行条件最初即为闭合，则 PLC接通电源，则不会产生输出。

在LV编程中经常也会遇到类似的问题.

比如统计按钮按下的次数,不采用事件结构而是采用POLLING方式,在C语言中是这样编程的.

boolcount(bool button) /* UpTrig */

{

static int counter=0;

static bool button_Old=FALSE;

if(Button && !Button_Old)counter++; /*OLD=FALSE,NEW=TRUE -->UP TRIG */

button_Old=button /*Update Old Status ,相当于LV的shift Register */

return(Button &&!Button_Old);

}

如果不是沿检测,如if(Button) counter++; 如果按钮一直处于按下状态,将导致COUNTER不断增加,这显然不是我们希望的结果.

再比如一个状态机结构,可以分成N个状态,在每一个状态中又可以分解成三个子状态,进入准备(初始化),运行,退出(清理),显然进入准备和退出清理必须是在条件发生变化的时候执行一次,这就需要沿的操作.

LABVIEW本身就提供了沿判断的VI,在逐点分析库其它中.

它的代码如下图：

它可以根据选择检测FALSE-->TRUE(UP), TRUE-->FALSE(DOWN) 或者EITHER,(UP AND DOWN)

OpenG也提供了一个类似的ＶＩ，

这两个ＶＩ都是利用了未初始化的SHIFT REGISTER,封装在子ＶＩ中，这是一个非常重要的概念，称做LV2型全局变量或者Function Global,以后会专门讨论