覆层测厚仪的测量精度影响因素

使用覆层测厚仪对物体进行测厚过程，不仅要了解清楚测厚的基材是什么是否适用，或使用的测厚仪的测厚范围是多少及其他的仪器参数，能否用在实验的要求上，而且还要清楚的在使用测厚仪过程中哪些因素影响了测厚仪的测量精度，既然使用覆层测厚仪对物体测厚，那么试验结果精度固然是一个不可忽视甚至是非常重要的一点。根据南北潮商城的资料显示，覆层测厚仪的测量精度主要受边界间距、基体金属最小厚度、表面粗糙度和表面清洁度、探头测量时的作用力、外界恒磁场、电磁场和基体剩磁和覆层材料中的铁磁成分和导电成分等因素影响。具体分析如下：边界间距当探头与被测体边界、孔眼、空腔、其它截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于涡流载体截面不够将产生测量误差。当必须测量该点的覆层厚度，必须预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。基体金属最小厚度被测物体的基体一定要给出一个既定的厚度最小值，能够让探头的电磁场全部包裹在被测物体的金属中，这里给出的既定厚度最小值和被测物体的性质相关，在这个给出的厚度上开展检测，不用再修整所测量的结果。如果基体的厚度达不到标准，所检测到的数据就不是最精准的，这种情况就需要使用同材质的物体紧贴在被检测物体上。表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。基体金属和覆盖层的表面粗糙度越大，影响越大。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些"飞点"。探头测量时的作用力探头进行检测时所使用的力应该是一成不变的，改变力应该最小化，这样软的覆盖层才不会出现变形的情况，导致检测数据不准确。在需要时，可以在探头以及被检测物体之间夹一层具有相当厚度绝缘的硬性薄膜，在检测结果中减掉薄膜的厚度就能够得到想要的结果。外界恒磁场、电磁场和基体剩磁覆层测厚仪测量应该避免在有干扰作用的外界磁场附近开展。因为根据检测器的性能残存的剩磁可能导致或多或少的测量误差，但是如果是结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。覆层材料中的铁磁成份和导电成份如果覆层使用的材料是某一种颜料的情况下，在覆层材料中含有一些铁磁元素，这会对检测的结果造成不良干扰。所以，用于校对覆层中和被检测物体覆层一项的电磁性质，经过校对后就能够正常的进行检测。运用的方式可以是把一样材质的覆层材料涂抹在铜或者铝的试样品种，使用电涡流检测方式进行检测取得对比规范试样。关于覆层测厚仪的品牌信息、使用方法、图库等可以参考一下：http://www.nbchao.com/p/fucengcehouyi