自我测试是汽车电子面临挑战的关键因素

车辆采用的电子系统IC复杂性逐渐提高，希望借由执行人工智能(AI)算法控制自驾功能，同时也需满足《道路车辆功能安全ISO 26262》标准（以下简称《ISO 26262》）要求。因此，IC设计公司也正快速采用完整性的测试解决方案，以便达到相关标准要求。

确保车辆电子能稳定的作法之一就是在功能运转期间执行定期测试，也就是在逻辑与存储器利用内建自我测试(Built-in Self Test；BIST)。逻辑BIST也是ISO 26262执行诊断测试的推荐机制，其包含应用在扫描链的芯片产生随机模式，但在车用IC执行BIST仍有挑战。

首先是符合诊断测试时间间隔(DTI)侷限，其次是打造逻辑BIST，以便满足测试排程，第三是建立应用等级存取所有芯片逻辑BIST以及启动市场反馈诊断。

《ISO 26262》指出，DTI必须介于100至几微秒之间，这对于车用安全完整性等级中最严格的D标准是一项挑战。另外，《ISO 26262》也定义当错误发生到错误带来有害后果的一段时间。因此，为了符合DTI，测试必须平行执行，但执行平行测试是架构挑战，可能会打破设计的功率预算。

所有功能安全监控与系统内测试活动，通常是由在专用或共享CPU上执行的软件驱动，直接从软件层存取测试机制可减缓开发流程压力与降低测试延迟。此外，能发现故障的电路相当重要，特别是牵涉法律责任的市场反馈。系统内测试解决方案必须能够执行相同测试，且收集更多与制造测试档案类似的测试细节。如此电路便可被诊断去发现故障根本原因。

随着装置尺寸与复杂性不断增加，满足《ISO 26262标准》的质量与可靠性要求变得更加困难，因此，在IC设计过程的早期便应考虑到设计测试活动。在先进可测试性设计(DFT)流程中采用逻辑BIST，则可帮助厂商达到质量与可靠性指标及产品差异化。车用安全相关IC的DFT则可透过EDA供应商提供的全面ISO 26262认证自动化给予辅助。