一种新型低功耗上电复位电路设计
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引言
现今,POR(上电复位)电路被广泛应用于电源上电或掉电重启时,对锁存器、寄存器、触发器等具有记忆功能的模块进行初始状态的设定,从而确保系统进入正常工作状态。由于POR电路的可靠性关系到系统能否正常工作,故在系统芯片中嵌入高可靠性的POR电路是非常有必要的。同时,由于工艺和设计水平的不断提高,系统的开发也朝着低压低功耗方向发展,这就不可避免地对POR电路的设计提出了高可靠性和低功耗的要求。
基本的上电复位电路有两种:一种是采用RC结构,通过电容充放电原理来实现;另外一种釆用较为复杂的基准源一比较器结构,由比较器电路来控制复位电平的产生。前者存在电路适用范围小、复位可靠性低的缺点,而后者存在结构复杂、功耗偏大的缺点。因此,两种基本的上电复位电路都不能满足高可靠性和低功耗的要求。
为了解决POR电路的可靠性和功耗间的矛盾,本文设计了一种新型低功耗POR电路。该电路采用低功耗设计技术,并利用反相器、电流镜等简单电路结构来实现对电源快速、慢速启动均可产生正确的复位信号,同时对下拉电压设置了滞回电压,从而实现了良好的复位功能和较低的功耗。整个电路的电源电流消耗典型值仅为2.8μA。
1 电路分析
新型低功耗POR电路如图1所示。该电路可以分为以下几部分:其中M1、M2管构成启动电路部分;M3、M4、M5、M6管以及反相器I1,构成等效施密特触发器结构;M7管和电容C用于完成快速启动时的复位功能;反相器I3、I4构成逻辑整形部分。
图1中,电源电压VDO从0开始上升时,M1、M2管工作在亚阈区,A点电压线性升高,B点电压不断降低。当B点电压降低到反相器I1的翻转阈值时,反相器I1翻转,C点电位变为高电平,经过反相器I2,M8、M9管以及反相器I3、I4的逻辑整形输出信号POR开始跟随VDD。至此,便可完成POR电压的上拉过程。
之后,VDD继续升高,当VDD大于M1管的阈值电压绝对值时,M1、M2管进入饱和区。此时,流过M1、M2管的电流为:
由于流过M1、M2管的电流相等,忽略沟道长度调制因子,由式(1).(2)可得A点电压为:
随着VDD继续上升,M3管进入饱和区,B点电压升高。当B点电压VB达到反相器I1的翻转电压VM时,反相器L发生翻转,C点电位变为逻辑低电平,M6管关闭,通过逻辑整形,POR电压被迅速拉低,至此便完成了系统复位功能。该点对应的VDD电压为下拉电压。此时M3、M4、M5工作在饱和区,M6管等效为开关管,流过M3、M4、M5管的电流为:
其中,χ可取4,5。
在VDD等于下拉电压时,VB等于Vm,M6管开启,流过M3管的电流等于流过M4管和M5管电流之和,忽略沟道长度调制效应,由以上公式可近似得出下拉电压为:
由式(6)可以看出,下拉电压仅与M1、M2、M3、M4、M5的(W/L)和VTH有关。
当VDD从正常工作电压开始下降时,B点电压较高,C点电位为逻辑低电平,M6管关断。VDD如继续下降,B点电压降低到VM,反相器I1发生翻转,C点电压升高,经过逻辑整形,输出信号POR跟随VDD。此时,M3、M4处于饱和区,M6截止,由式(3)、式(5)近似可得到VDD下降时的下拉电压为:
为防止电源上电时的噪声电压影响上电复位电路的可靠性,该电路通过反相器I1、M5和M6管可实现下拉电压的迟滞。由式(6),(7)可得POR滞回电压VR为:
VR=VT2—VT3 (8)
此外,本电路对电源电压在快速启动情况下的上电复位功能进行了补充。当VDD为快速上电时,启动电路部分尚未开始工作,这时VDD对电容C充电,使得M7管漏端电压迅速上升,POR迅速变为高电平。当启动电路部分开始工作,并使M7管打开,此时电容下极板上的电荷开始被M7构成的电流源抽取,该点电压下降,从而使得POR恢复为低电平,从而完成了快速启动情况下的复位过程。
2 电路仿真及分析
本文设计的上电复位电路可采用0.5μmCMOS工艺实现,并利用HSPICE作为仿真工具。在该电路的仿真中,我们主要关心它的下拉电压、滞回电压以及Step Response条件下的复位脉宽。
2.1 下拉电压的仿真
用瞬态分析法,当电源电压在10ms时间内由0变为最高值时,可观察输出复位信号POR起拉及下拉电压点,其瞬态仿真波形图如图2所示。由波形可以看出,A点即为起拉电压点,B点为下拉电压点。
2.2 电压滞回的仿真
在电源电压下降的过程中,当其低于再次产生复位高电平的阈值点时,输出信号POR将再次产生一个逻辑“1”电平,为了防止振荡,应在电路中设置典型值为150mV的电压滞回。在典型条件下的POR滞回仿真曲线如图3所示。图3中,A曲线为VDD从0〜3.6V的正向DC扫描曲线,B曲线为VDD从3.6V~0的反向DC扫描曲线,由仿真波形可以看出,两曲线下拉电压存在150mV的滞回电压。
2.3 复位脉宽的仿真
StepResponse条件下的复位脉宽的仿真时,给电源电压加-快速阶跃信号(Tr=10ns),然后检测输出信号POR的复位功能及其高电平复位脉宽。图4所示为在典型条件下的脉宽仿真曲线。
2.4 容差结果及版图
为了保证电路在所有工艺和外部环境条件下都能正确工作,在设计中应对电路进行容差分析。在对下拉电压的容差分析中,对正、反两个方向的VDD进行直流扫描。分别对一40°C、0°C、25°C,85°C四个温度点时所有45种工艺模型下的容差进行仿真的结果如表1和表2所列。
对快速启动情况下的复位脉宽的仿真同样可在-40°C、0笆、25°C,85°C四个温度点,以及3V,3.6V,5V,5.5V四个电源电压和所有45种工艺模型条件下完成,其仿真结果如表3所列。
通过以上的典型功能仿真分析和容差分析结果可以看出,本文设计的上电复位电路可以满足上电复位功能要求,并在所有工艺条件和外部信号条件下均能产生可靠的复位信号。
图5给出了该电路的版图部分,为便于调整快速启动时的复位脉宽,在版图设计中预留了与设计值相同大小的备用电容。
3 结论
根据低功耗电路的设计要求,本文设计了一种新型的高性能、低功耗上电复位电路,该电路结构简单,具有较高的复位可靠性,典型条件下的电源电流消耗仅为2.8μA,因而具有极低的功率损耗。此外,电路也解决了以往同类电路设计中存在的功耗和可靠性的矛盾。目前该电路已经成功应用于一款电源IC的设计中。