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基本故障率（BFR）量化了半导体元件在正常环境条件下工作时的固有安全性。BFR 乘以温度、电压和工作小时数等参数，通常得到一个可衡量元件质量的量度。

BFR 是用于计算随机硬件指标（按功能安全标准的要求）的主要输入之一，可通过多种方法进行估算。BFR 估算方法依赖于失效模式的假设；因此，这些基本假设的差异将导致 BFR 估算的差异。

本白皮书重点介绍了两种普遍用于估算半导体元件 BFR 的方法，即分别按照 IEC 技术报告 62380 和 SN 29500 进行估算。除此之外，本文还概述了影响 BFR 的因素，并比较了各种估算方法。

内容概览

本白皮书内容包括：故障类型和随机硬件故障的量化指标，产品寿命内的随机故障和 BFR 的估算，BFR 估算方法，SN 29500 FIT 模型，IEC 62380，BFR 计算的建议假设，瞬态故障的特殊注意事项，IEC 62380 和 SN 29500 之间的 BFR 差异，通电时间对 BFR 的影响等。

简介

硬件故障本质上可以是系统故障，也可以是随机故障，如图 1 中所示。系统故障是由设计、开发或制造流程中存在的某种不足引起的，并且通常源于开发流程中的缺陷。器件错误是系统故障，因为它在开发过程中的设计验证阶段能够检测到。例如，设计的汽车具有方形车轮将视为系统故障，因为汽车使用该形状的车轮将无法正常使用。遵循严格的开发流程，以通过不断改进流程来管理和缓解系统故障，甚至可将这些故障完全消除。

图 1 系统和随机故障概述

另一方面，随机硬件故障是无法消除的，因为所有电子系统最终都会失效。因此，解决随机硬件故障的能力仅限于检测和尽可能防止它们的发生。对于汽车类电气、电子和可编程电子系统，向驾驶员发出问题警报可降低随机硬件故障产生的影响。

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