Microsemi 网上研讨会
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主题: 锐拓集团(Ridgetop)内建焊接自我检测(Solder Joint Built-in Self-test™ , SJ BIST)技术
内容: 由美高森美公司赞助的网络研讨会将概述锐拓集团(Ridgetop)的内建焊接自我检测(Solder Joint Built-in Self-test™ , SJ BIST)技术。球栅阵列(ball grid array,BGA)封装中的焊接特别容易遭受累积疲劳的影响而损坏。在锐拓开发SJ BIST产品之前,还没有已知的方法,在运行中的焊接网路内检测与BGA封装有关的间歇性,高电阻故障。累积劳损最终会引起焊接爆裂,这些通常发生于封装或印刷电路板(PCB)的边界位置。
SJ BIST设计用于检测静态和动态互连电阻的增加,然后向系统发出针对互连状况和相关焊接的警报,从而增强维护,及时进行更换或者转换到冗余系统,避免灾难性故障的发生。除了焊接状态监测之外,SJ BIST技术还用于注重互连完整性和可靠性的广泛应用。
目标: 网上研讨会的学习目标包括:
- 互连可靠性
- SJ BIST 的能力、运作与应用
时间: 2012年6月5日(星期二) 上午8 时至9 时(美国太平洋时间)
(北京时间2012年6月5日晚上11时至12时)
网上注册: 注册参加网上研讨会,请访问以下链接: https://www1.gotomeeting.com/register/133024360<http://emod-handler.crmondemand.com/ctd/lu?RECIP=%245%241%2FM4IFS3W9qecZup236gfz2CP6YJmb5QnIuYbbTGSi%2BmY%3D%3B%245%241%2F1a7OzFAFV2yZ5X44PV64APe7HaNRSeuQlbZ%2FLg39bXRSB59HQ1tOFR91yQ1N6jOX&MRKID=c1a22&T=https%3A%2F%2Fwww1.gotomeeting.com%2Fregister%2F133024360. (英文)。注册后主办方将发出载有网上研讨会的详细信息的确认电邮。