安捷伦工程师新著X参数权威书籍
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安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布出版《X 参数:非线性射频与微波元器件的表征、建模和设计》,该书阐述了安捷伦突破性的非线性 X 参数测量、建模和仿真技术。该书由剑桥大学出版社出版,包含多个应用实例,是一本向读者介绍 X 参数理论的权威指南。
该书作者为安捷伦科学家与工程师 David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn 和 Mihai Marcu,他们是 X 参数理论的原创发明人和开发者,并且这一强大理论被应用于非线性射频与微波元器件和系统。同时,该书的作者也是工业界和学术界公认的建模、仿真和测量科学领域的权威专家。
本书为 X 参数技术奠定了基础,并通过实际案例为读者提供了有用的概算方法。这些概算方法显著降低了非线性元器件和系统的测量、建模和设计复杂程度。本书还讲解了如何利用 X 参数解决在非线性射频与微波工程中的复杂难题。
此外,本书还包括实际案例分析、标准符号和表示方法的定义、详细推导(参见附录)、练习题及解答。该书内容丰富,为那些希望了解射频与微波工程学最新发展趋势的研究人员、工程师、科学家和学生提供了权威参考。
《X 参数:非线性射频与微波元器件的表征、建模和设计》可经由亚马逊或剑桥大学出版社订购。