AM-OLED显示驱动芯片中内置SRAM的设计

摘要：详细描述了一种内置于AM-OLED显示驱动芯片中的单端口SRAM电路的设计方法，提出了一种解决SRAM访问时序冲突问题的仲裁算法。同时给出了基于0．18μm标准CMOS工艺设计的一款大小为320x240x18位的SRAM电路。通过Hspice仿真结果表明，该结构的动态功耗相对于传统结构可减小22．8％。
关键词：低功耗位线结构；单端口；静态随机存取器；仲裁器；显示驱动芯片

0 引言
    近年来，OLED(有机发光二极管)的低功耗、主动发光和超薄等优势已具有逐步取代LCD(发光二极管)的趋势，被认为是未来20年成长最快的新型显示技术。将SRAM、电源电路、源驱动电路、时序控制和接口逻辑等功能模块集成在一块的AM-OLED (有源驱动有机发光二极管)显示驱动芯片是手机OLED屏和MCU(微控制器)之间的接口驱动电路。而其内置SRAM是整个芯片中一个非常重要的模块，可用于存储一帧图像的数据。但由于它占据整个芯片大部分的硅面积，因此，它对芯片整个的面积有着决定性的影响。
    SRAM功耗在整个芯片中占据很大比重。近年来，对低功耗SRAM的研究很多，其中降低动态功耗主要依靠降低寄生电容和限制位线电压摆幅。事实上，在驱动芯片对SRAM速度要求不高的情况下，以牺牲读取速度来换取SRAM的功耗和面积是可行的。而另一方面，SRAM又存在访问时序冲突问题，其传统方法是采用双端口SRAM结构来实现同时读写功能，但这样会大大增加内置SRAM的面积。为此，本文采用时分技术来使单端口SRAM具有双端口结构的功能，并采用仲裁电路来划分两种请求信号的优先权，以将外部两个并行操作信号转化为内部单端口SRAM的顺序执行，从而使两种请求信号完全处于独立的时间操作域内。

1 SRAM电路的传统结构
    图1所示是传统六管SRAM的电路结构，它主要包括存储单元、预充电路、写入驱动和输出电路。由于是单边输出，因而无需灵敏放大器和平衡管。

    当图1电路在读出数据时，预充信号Prech变低，以把两边位线电位拉到高电平，字线WL变高，其中一条位线通过存储单元放电到低电平，使读出电路导通，将位线信号读出锁存。而在写入数据时，预充电路也会先对两条位线充电到高电平，以便读信号Wen开启两个NMOS管，写驱动电路将其中一条位线电位拉到低电平，然后字线打开，将数据写入存储单元。由于在读写过程中，预充电路每次都要对两条位线进行预充电，故会造成功耗的浪费。经过对该电路的具体分析，本文研究并提出了一种低功耗的位线结构。

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2 SRAM电路的低功耗设计
    嵌入式SRAM的功耗大致分为动态功耗和静态功耗。对应到SRAM的具体模块上，其功耗主要消耗在译码器、字线驱动、位线预充、灵敏放大器以及静态漏电流上。译码器可以用与非门逻辑来代替伪NMOS逻辑设计以降低功耗，由于本电路结构没有灵敏放大器电路，因而无需考虑其功耗。下面主要就动态功耗进行优化。
    SRAM电路的动态功耗计算公式如下：

    式中，iactive为工作单元的等效电流；ileak为不工作单元的漏电流；CDE为每个译码器的输出节点电容；VINT为内部电源电压；iDC为读操作消耗的直流电流；△t为直流电流的激活时间；CPT为CMOS逻辑电路和外围电路的总电容；IDCP为外围电路的静态电流。本文分别从降低位线寄生电容及其电压摆幅来降低SRAM的整体功耗。
2．1 降低寄生电容
    降低寄生电容可采用位线划分技术(DBL)和字线划分技术(DWL)，即将位线和字线划分成多级，以降低位线寄生电容和字线寄生电容，这样即可降低读写功耗，也能提高数据的读写速度，进一步提高SRAM的整体性能。图2所示是一个大小为320x240x18位的SRAM存储阵列的整体结构。该结构将240x18列分成4块，每块包含60x18位数据；320行则分成左右两级，每级含160行。这样就把整个阵列分成了8个小模块，每块大小为160x60x18位，这样就使得字线电容降到了原来的1／4。位线电容则降为原来的1／2。

2．2 降低位线电压摆幅
    由于传统结构中，整个读写过程的预充电路都会对两条位线进行预充电，故会造成功耗的浪费。而读电路是采用单边输出，位线上的电压摆幅则必须采用全摆幅形式，因此，只能通过降低写操作时的电压摆幅来降低功耗。[!--empirenews.page--]
    图3所示是采用低功耗位线技术的改进型SRAM的结构图。该电路结合单端输出来得到SRAM的电路结构。该电路与传统电路的两个不同之处：一是写驱动电路采用单边驱动结构，且增加了一个平衡管来防止数据丢失。而在写操作时，只需对一边位线下拉到低电平来写入数据，另一边位线浮空；二是预充电路只在读操作时充电，在写操作时不充电。

    图4所示是新SRAM结构电路的工作时序图。该电路在读操作时，Prech变低，预充电路位线充电到高电平，字线变高，位线BLB通过存储管放电到低电位，读取电路读BLB上电压信号，数据读出；而在写操作时，先平衡位线电位，以防止数据丢失。假设原来存储管里存储的是“0”，要向其中写入数据“1”，则写使能信号Wen先从低电平变到高电平，此时D为高电平，D’为低电平，MN1管导通，MN2截止，位线BL悬空，位线BLB被拉到低电平，字线变高，传输管导通，以便向存储管里写入数据“1”。
    在字线变高时，同字线上的其它单元的位线BL、BLB会通过存储管里的上拉PMOS管和下拉NMOS管充放电到一定电位。为了防止在写操作时位线充放电过多而导致浪费，可减小字线选择信号的脉宽，以缩短对位线的充电时间。

3 仲裁器模块设计
    仲裁器电路分为仲裁和时序产生等两部分，其中仲裁部分处理MCU送来的读写请求和显示控制器送来的读请求信号，并判断它们的优先级别，然后把请求信号送入时序产生电路。时序产生电路负责产生sram模块的控制信号。
3．1 仲裁器电路
    仲裁器模块主要用来处理行扫描以及MCU读写产生的时序冲突问题，也就是在这两个信号同时送过来时，先判断它们的优先级，同时将外部两个并行操作信号转化为内部单端口SRAM的顺序执行，从而使两种请求信号处于完全独立的时间操作域内，以减小内置SRAM的面积。鉴于MCU读写速度大于显示行扫描速度，MCU读写信号的优先级别应高于显示读信号。[!--empirenews.page--]
     图5所示是仲裁器的具体实现原理图，图中有三个请求信号，其中MCU的读写请求信号(mcu_wr、mcu_rd)以及显示数据输出信号(disp_ rd)两类请求信号对外部是相互独立的，但MCU读写请求信号在内部不是相互独立的，一个MCU读写周期只对应一次读或写操作。其优先级的判断主要是通过图5中的与非门来实现的。下面通过两种时序冲突来说明优先级判断方法。

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    仲裁器首先接受来自显示控制模块的SRAM读操作请求，然后接收来自MCU的写请求。这时，mcu_wr有一个上升沿，D触发器将锁存输出高电平，并经反相器反向输送到与非门，与非门输出低电平，使disp_r置“0”，以打断显示读信号响应，直到仲裁器处理完sram_wr信号请求，再由时序产生电路反馈一个完成信号sram_done，并清零sram_wr的D触发电路。由于显示读的D触发器的输出信号disp保持高电平，使与非门的输出变高，disp_r重新置为“1”，同时重新处理打断的disp_rd信号。
    第二种时序冲突是仲裁器先收到外部MCU的读请求信号，在还没有结束处理这个请求信号时，显示控制模块的并行读请求信号已送到仲裁器。这时请求信号disp_rd的一个上升沿使disp由低电平变为高电平，此时mcu_rd的D触发器输出保持为高电平，与非门不受disp信号的影响，一直输出高电平。由于显示读请求信号被延迟，直到处理完MCU读请求信号，清零信号开启，使mcu_rd的D触发器输出低电平，这时，与非门输出高电平，disp_r重新置为“1”，时序产生电路响应其请求。
3．2 时序产生电路
    由仲裁器电路产生的总请求信号sram_access送到这里后，可用以产生SRAM时序控制信号。该模块采用单稳态时序电路结构来实现其功能，其难点主要是解决预充信号Prech和字线选择信号WL的产生问题。根据SRAM的存储结构可知，Prech只在读操作才对位线充电，写操作时不充电；由于字线选择信号WL在读操作和写操作时的脉宽不一样，故需要采用不同时延模块，并根据不同操作，通过传输门来选择输出WL信号。

4 仿真结果
    对基于0．18μm标准CMOS工艺库设计的大小为320x240x18位的内置SRAM结构使用Hspice对其子模块(320x60x18位)进行仿真，所得到的读写总电流波形如图6所示。

    由图6可见，改进结构在写操作时没有大电流，而在读操作时会有部分尖峰电流，这主要是由于平衡预充位线抬高了位线初始电压，从而降低了预充PMOS管的导通电阻所致。
    改进SRAM结构的动态功耗为4．6mW。若用传统SRAM结构，对于相同大小的电路，其仿真得到的动态功耗为5．96mW。因此，相比传统结构，改进型结构的动态功耗减小了22．8％。

5 结束语
    本文对显示驱动芯片中内置SRAM电路进行了低功耗研究与设计。新方法采用位线划分和字线划分技术来设计SRAM整体结构，从而降低了寄生电容。事实上，结合低功耗位线技术对传统SRAM单元结构进行改进，写操作时停止对位线预充电，可以达到降低功耗目的。而引入仲裁算法可解决SRAM访问的时序问题。根据SRAM读写操作要求设计的时序产生电路的仿真结果显示，其动态功耗可以得到大幅降低。
    目前，本电路已经应用在一款AM_OLED显示驱动芯片中，并已完成前期仿真。仿真结果可以达到预期指标要求，从而证明了该电路的可行
性。