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[导读]半导体发光二极管(LED)因其体积小、定向发射光、高亮度、PN结电特性等特点,从而在品质的评价和检测方法方面产生许多新的问题。不同的应用场合,决定了对LED产品的性能要求。从光学性能来看,用于显示的LED,主要是亮

半导体发光二极管(LED)因其体积小、定向发射光、高亮度、PN结电特性等特点,从而在品质的评价和检测方法方面产生许多新的问题。不同的应用场合,决定了对LED产品的性能要求。从光学性能来看,用于显示的LED,主要是亮度、视角分布、颜色等参数。用于普通照明的LED,更注重光通量、光束的空间分布、颜色、显色特性等参数,而生物应用的LED,则更关心生物有效辐射功率、有效辐射照度等参数。此外,发光二极管既是一种光源,又是一种功率型的半导体器件,因此有关它的质量必须从光学、电学和热学等诸多方面进行综合评价。

光学性能:LED的光学性能主要涉及到光谱、光度和色度等方面的性能要求。根据新制定的行业标准“半导体发光二极管测试方法”,主要有发光峰值波长、光谱辐射带宽、轴向发光强度、光束半强度角、光通量、辐射通量、发光效率、色品坐标、相关色温、色纯度和主波长、显色指数等参数。显示用的LED,主要是视觉的直观效果,因此对相关色温和显色指数不作要求,而照明用的白光LED,上述两个参数就尤为重要,它是照明气氛和效果的重要指标,而色纯度和主波长一般没有要求。

电性能:LED的PN结电特性,决定了LED在照明应用中区别于传统光源的电气性能,即单向非线性导电特性、低电压驱动以及对静电敏感等特点。目前主要的测量参数包括正向驱动电流、正向压降、反向漏电流、反向击穿电压和静电敏感度等。

热性能:照明用LED发光效率和功率的提高是当前LED产业发展的关键问题之一,与此同时,LED的PN结温度及壳体散热问题显得尤为重要,一般用热阻、壳体温度、结温等参数表示。

辐射安全:目前,国际电工委员会IEC将LED产品等同于半导体激光器的要求进行辐射的安全测试和论证。因LED是窄光束、高亮度的发光器件,考虑到其辐射可能对人眼视网膜的危害,因此,对于不同场合应用的LED,国际标准规定了其有效辐射的限值要求和测试方法。目前在欧盟和美国,照明LED产品的辐射安全作为一项强制性的安全要求执行。

可*性和寿命:可*性指标是衡量LED在各种环境中正常工作的能力。在液晶背光源和大屏幕显示中特别重要。寿命是评价LED产品可用周期的质量指标,通常用有效寿命或终了寿命表示。在照明应用中,有效寿命是指LED在额定功率条件下,光通量衰减到初始值的规定百分比时所持续的时间。

步骤与方法:

首先,测量的标准发光二极管的光辐射实际上是一种定向的成像光束,因此不能按照一般教科书中的光度测量规则测量和计算发光强度。也就是说,一般情况下发光强度不能简单地用探测面上的照度和距离平方反比定律来计算。CIE 127-1997“发光二极管测量”出版物把LED的强度测试确定为平均强度的概念,并规定了统一的测试结构,包括探测器接收面的大小和测量距离的要求。这样就为LED的准确测试比对奠定了基础。虽然CIE的文件并非国际标准,但目前已得到国际上的普遍认同和采用。我国的LED行业标准与该CIE文件的方法完全一致。

第二,光度测量传感器的光谱响应目前,在LED测量仪器中所用的光度测量传感器是采用硅光电二极管和相应的视觉光谱响应校正滤光片组成。为了使探测器的光谱响应函数与CIE标准观察者光谱光视效率函数V(λ)一致,一般需由多片滤光片组成。由于受材料及工艺的限制,某些仪器的传感器在光谱匹配上存在一定的差异,当仪器出厂定标所用的标准源(通常采用2856K钨丝灯)与所测量的LED管的光谱存在较大差异时,测量的LED光度量值就会产生明显的偏差,而且对某些单色LED往往更加明显。因此应采用光谱响应曲线在各个波长符合度较好的高精度光度探测器,或者采用光谱辐射法测量,并由计算机加权积分,得到准确的测量结果。否则,必须采用LED标准样管对仪器进行定标或校正,才能得到比较一致的结果。

第三,测量的方向性发光二极管发射光的方向性很强,测量方向的定位将明显影响测量结果的准确性。尤其在LED的轴向光强测量中,一些仪器没有对测量LED的方向作限定,这样就很难保证测量精度。在LED的测试供电驱动中,LED本身结温的升高对电参数和发光的影响不容忽视。因此,测量时的环境温度及器件的温度平衡是非常重要的一项测量条件。

注意事项:

从国内外现有的LED检测仪器来看,基本上是针对发光二极管的测试要求。随着功率型LED的发展,对测试方法的统一和仪器的要求,越来越受到大家的关注。现有的许多测试仪器,对于照明用LED灯的测量将会带来很多新的问题。因此,在选购和使用LED测量仪器的过程中,必须根据产品的种类、特性及相关的国内外标准来确定。

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