广晟选用LTXCX系列实现TD-SCDMA射频芯片数字化测试方案
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“我们的RS2012是一款高性能的TD-SCDMA数字射频芯片,自然也需要一款优秀的测试机台,不仅要具备良好的射频信号测试性能,并且还要拥有处理业内最新的数字信号开发和处理能力,”广晟微电子总经理王小海说,“很高兴能在LTXC的X系列上短时间内就完成了如此复杂的数字射频芯片的测试方案,也令我们在其上验证到RS2012的优异性能,世界一流的EVM性能-发射机EVM约在2%,接收机EVM约在3%,-38dBc的本振抑制和良好的直流自校功能。可以肯定地说,RS2012能够满足TD-SCDMA市场的所有要求。”
DaveTacelli,
LTX-Credence的主席兼首席执行官评论道,“在项目之初,我们只是接到需求,要为一款世界先进的3G射频芯片开发ATE量产测试方案。通过有效的协作,我们克服了众多具挑战性的困难,成功地完成了整个测试方案的开发和移植,为RME的RS2012缩短了投入市场的宝贵时间。X系列也为其提供了低成本的射频测试保障。而RME的工程师、LTX-Credence和蔚华之间的机密协作便是这个项目成功的关键。这个项目的成功也充分地证明了,我们有能力为全世界的客户提供一流的技术支持和服务。”