Excelitas Technologies宣布SiPM技术取得突破性性能成果

21ic讯 Excelitas Technologies日前宣布，该公司在对固态硅光电倍增管（SiPM）技术进行开发和实用化过程中，取得了破纪录的世界级高光子探测效率（PDE）与低暗计数的性能成果。固态硅光电倍增管是Excelitas针对医疗与分析仪器市场的微光探测（L3D）技术与产品套件的一大重要组成部分。

该测试成果已经在“CERN Industry-Academia Matching Event on SiPM and Related Technologies”（欧洲核电子中心固态硅光电倍增管及相关技术产学研对接活动）上发表并公布。此项活动于2011年2月16日至17日在瑞士日内瓦举行，共有120名从事尖端光子探测工作或研究的产业界与学术界专家参加。

2009年，该公司与Max Planck Society（德国马普学会）的技术转让机构Max Planck Innovation就其超高速、低串扰的固态硅光电倍增管技术签订独家协议。硅光电倍增管的光子探测效率高，响应时间短，功耗低，是荧光与分子成像等多种微光应用的理想之选。

Excelitas全球探测业务部高级副总裁兼总经理Michael Ersoni表示：“Excelitas非常高兴能够展示固态硅光电倍增管技术的突破性技术成果。我们非常高兴能够发布这项目前最先进的成果，对人们对在真实实验状况下测试与评估Excelitas硅光电倍增管技术所表现出的浓厚兴趣感到非常欣慰。”

Ersoni先生还补充：“Excelitas坚定不移地致力于实现其微光探测产品与技术的快速增长，以满足生命科学、临床诊断以及分析仪器领域最先进应用的大量需求。”

3月13日至18日，Pittcon 2011（2011年美国分析化学和光谱应用会议暨展览会）将在亚特兰大乔治亚世界会议中心（Georgia World Congress Center）举行。届时Excelitas Technologies将在5060号展位展示专为分析仪器与生命科学市场量身定制的光发射及微光探测解决方案。