河洛IC测试机提升逻辑与混合讯号IC测试效率

河洛半导体(Hi-Lo Systems)发表针对逻辑或混合讯号IC测试需求而设计的 HV-256 IC测试机，可透过 USB 2.0 和 PC 连结，在优异的测试软体环境ITE (Integrated Test Environment)下，提供工程开发、量产测试失败分析及良率改善等功能。
新款 HV-256 IC 测试机提供100MHz 时脉速率、50MHz资料传输率、 256 (8 x 32)个测试通道、1M+35M (FLASH)测试向量记忆体，可支援 TTL 、 GPIB 、 RS232 等通讯介面，可与坊间元件分类机(如HI-LO HL-930等)或晶圆针测机(如TSK Prober)连结，可对高达16个待测元件同时进行测试量产。

HV-256 IC测试机可进行 DC 、 AC 及功能性测试。256个测试通道可提供电压表、电压/电流检测、恒压、恒流源流出/流入、上拉/下拉电阻、主动负载、时间参数测量、并内建任意波形产生器及波形量化器等强大功能，媲美传统 ATE ，提供高规格性价比。机台体积精简，能因应待测IC特定需求，并具客制化弹性。

TMU可测量频率/周期、传输延迟、设立/保持时间、上升/下降时间和讯号斜率等交流参数；AWG 可产生正弦波、方波、斜波或任意波；Digitizer可撷取待测讯号，藉由量化进行数值分析，并计算出各种参数，测试完成后还可进行烧录动作。

在 ITE 测试软体环境下作业，该IC测试机可支援Windows XP / Windows Vista / Windows 7 (32-bit)作业系统、ANSI C语法、编辑Pattern、设定AWG及编译测试程式等等工程开发模式，以及进行量产的作业介面、自我测试及校正等模式。