Multitest将在SEMICON China 2011期间举办“测试成本高级研讨会”

Multitest 宣布其将在SEMICON China 2011期间举办“测试成本高级研讨会”，会议定于3月16日在W2展厅的M2会议室举办。2010年SEMICON China展会将于3月15日至17日在上海新国际博览会中心举办。

该研讨会将围绕以下主题展开：影响测试成本的主要因素；测试座如何大幅影响测试成本；优化测试设备使用以达到最佳测试成本；协调测试配置以达到最佳性能。研讨会对所有感兴趣的业界同仁开放，欢迎各位人士参与交流。如需了解更多详情或报名参加，请登录http://www.multitest.com/summit.

届时，Multitest公司客户经理易晓波先生将用中文进行技术讲座，由业务部经理Günther Jeserer协助进行。易晓波先生曾就读于中国电子科技大学的激光技术专业，他于2004年Multitest在中国成立办事处伊始，就加入了Multitest公司任职客户经理。

Günther Jeserer先生曾读于德国慕尼黑技术大学的电气工程与信息技术专业。 当1984年他还在大学读书时，就在罗森海姆加入了Multitest公司。他曾任职软件工程师、项目和产品经理等若干职位，现任重力和拿放式分选机部门的业务经理。

Multitest公司经济实力强大，能够不断投资于研发，招募训练有素的工程人员。通过与客户密切合作，Multitest深知当前及未来的市场趋势和测试要求，不断利用其资源以及对市场的深刻洞察，创新推出性能卓越且具成本效益的测试解决方案，以真正满足任何需求。

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