日本工程使闪存测试仪实现小型及低耗电化

爱德万测试集团（Advantest Group）的日本工程（Japan Engineering）支持小型低耗电闪存的测试仪“B8502”及工程师站（Engineering Station）“B8502ES”，2010年11月起上市。这两款产品还将在2010年12月举办的“SEMICON Japan 2010”上展示。

“B8502”采用了集测试功能成于一枚芯片的IC。由此，在可将4736个信号引脚和256个电源收纳在约1.0m3容积内的同时，还将耗电量降至4kVA。这样，在削减了设备投资和运行成本的情况下，还能够同时测量256个芯片。试验频率为66MHz，价格为7000万日元以上。“B8502ES”是用于“B8502”的工程师站。采用了使用了同一测试模块的PIN卡，并且使用了相同构造的插板。其结果，对从调试到量产能够提供相同的操作环境，无需改变开发部门编制的程序，即可直接作为量产用测试程序使用。价格为1200万日元以上。

另外，虽然不在“SEMICON Japan 2010”上展出，但该公司从2010年11月已经开始了老化测试仪“P3505”的销售。标配了基于硬件控制的闪存测量功能，据称测试时间比该公司原设备缩短了90％。并且，通过同时测试约12288个芯片，提高了测试仪的处理能力。测试频率最大为20MHz，温度范围为-10～+150℃，价格为5000万日元以上。（记者：长广 恭明）

B8502” （点击放大）

“B8502ES” （点击放大）

“P3505” （点击放大）