NI發表新款PXI數位儀器與高頻寬機箱

NI近日發表2組新款的32個通道PXI Express架構數位儀器，還有新款8槽式高頻寬PXI Express 3U機箱，可用於高階的自動化測試應用。

NI PXIe-6544/45為可選擇電壓的數位波形產生器/分析器，分別可支援最高100與200 MHz的時脈，以簡化測試應用。NI PXIe-6545具備常見的660 MB/s串流速率，為業界目前最高串流速度的數位測試產品之一。針對需要於主機記憶體快速傳輸大量資料的高速半導體裝置，與高解析度（High-definition，HD）的多媒體元件，此新款數位儀器可讓測試工程師輕鬆進行完整的分析作業。

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NI PXIe-1082機箱為業界首款3U規格的8槽式PXI Express機箱，具備7組PXI Express週邊插槽，可容納產生器/分析器以達到各插槽最高1 GB/s頻寬，與最高4 GB/s系統總頻寬。

NI測試行銷副總Eric Starkloff表示，這些新儀器拓展了NI的PXI數位測試功能，且其所提供的效能與彈性，適於測試更高速的半導體晶片與多媒體裝置。這些PXI Express產品將取代傳統的週邊解決方案，以開放且現成的PXI儀控標準為架構，提供更高成本效益的進階解決方案。