2009年最佳测试产品

2009年最佳测试产品奖项，面向电子测试与测量行业的重要的创新性产品和服务。2009年“Best in Test”奖项共设有15个应用及产品类别，该奖项是由Test & Measurement World的读者投票产生，其中，年度测试产品——美国国家仪器的Wi-Fi数据采集设备获得最高读者投票数。

年度测试产品

Wi-Fi 数据采集设备

National Instruments www.ni.com

NI无线数据采集(Wi-Fi DAQ)设备具有内置的信号调理功能和商用安全性最高的网络，能够实时进行数据采集，完成性能卓越且简便易用的远程无线传感器测量。NI无线数据采集(DAQ)设备通过结合IEEE 802.11无线或以太网通信、直接的传感器连接以及灵活的NI LabVIEW软件，实现着对电气、物理、机械和声音信号的远程监控。

NI无线数据采集(DAQ)设备每通道的数据读写速率超过50 kS/s，并具有高达24位的分辨率。此外，经NIST核准的内置式128位AES加密和高级网络认证方法，确保着最高的商用网络安全性。

借助灵活的NI LabVIEW图形化编程和普遍使用的802.11网络设施，无线数据采集(Wi-Fi DAQ)可轻松地将无线连接，纳入基于PC的新型测控系统或现有测控系统。工程师可以利用无线数据采集C系列测量模块，交替使用在数个平台（包括：NI CompactDAQ和CompactRIO、NI单模块USB外盒）上，实现各种测量和控制应用。

NI无线数据采集(DAQ)设备包括五款无线设备模块以及众多附件，价格为699美元起。

最佳测试时间奖

ATPG软件

Mentor Graphics www.mentor.com

TestKompress ATPG（自动测试格式生成）软件包括嵌入式测试压缩，以提供高质量低成本扫描测试。随着测试需求的增长，在高产量环境下保持高质量IC测试需要进行压缩。很显然，在针对更高阶IC技术时，使用测试向量是必要的需求。

通过TestKompress，测试接入I/O口可以减少三个管脚，简化了测试，增加了器件的封装选择性，使标准设计更加流畅。嵌入式确定性测试（EDT）技术可适用于从微处理器至汽车电子的广泛设计类型，给出一致的测试结果，不会出现损失基本覆盖率。

TestKompress在2001年时被作为额外的格式压缩功能引入FastScan ATPG工具。最初的压缩等级为10倍，目前已发展至超过100倍。另外的功能包括，分布式处理以获得更快的执行能力，无需特殊格式就可指导错误诊断。设计经过多次压缩后，晶圆测试、封装测试和自建内测试的工作可以明显得到优化。非矢量测试中，可以加入逻辑自测试（LBIST）来进行系统测试。

音频/视频及多媒体

多媒体测试系统

VI Technology www.vi-tech.com

测试、设计和制造部门可以应用多媒体测试系统（MMTS）来测试多媒体设备的模拟和数字音/视频性能。MMTS系统提供硬件和软件测试所需的所有通用音频、视频信号及数字协议，通过资源共享以及双核处理器的应用可以优化测试时间。

电路板及系统测试和配置

覆盖扩展（Cover-Extend）技术

Agilent Technologies

Cover-Extend覆盖扩展技术是专为面对越来越复杂的印制电路板组件（PCBA）的制造商提供的测试覆盖工具，是电子制造行业两种已建立测试方法学：边界扫描和VTEP无矢量测试的混合。与要求在印制电路板组件(PCBA)上通过物理测试点注入测试激励信号的传统VTEP测试不同，Cover-Extend覆盖扩展不需要物理测试点，而是依靠边界扫描单元所提供的激励源。为在线测试(ICT)用户提供了不需要物理测试点的受限接入测试解决方案。

边界扫描

T 37x7 RMI仪器

JTAG Technologies www.jtag.com

JT 37x7 RMI (机架安装式) 仪器是完整的边界扫描控制器，采用标准的19英寸x1U外包装，兼容任何机架安装式功能测试系统。RMI支持所有的边界扫描测试应用，包括IEEE 1149.6高级数字网络测试以及闪存和可编辑逻辑器件的在系统编程(ISP)。RMI有4个完全兼容的边界扫描测试接入端口(TAP)，可以向目标设备提供优秀的信号完整性能。另外，RMI还提供256个可编程I/O，进一步增强了测试覆盖率。

EDA/DFx/测试数据分析软件

Global Test Operations 解决方案

OptimalTest www.optimaltest.com