吉时利针对高速晶圆生产测试升级测试软体

吉时利仪器(Keithley Instruments)稍早前推出「吉时利测试环境」(KTE)半导体测试软体的升级版。新的 KTE V5.3 是专为配合吉时利的程式控制监控方案产品线 S530 参数测试系统使用所设计。
KTE是一款测试开发和执行软体平台，而吉时利的 S530 测试系统，可运用这个经业界长期验证的软体平台，在严苛的生产环境中实现灵活的测试计划开发和高速测试。现有的吉时利S400和S600系列参数测试仪用户将能受益于S530系统上的KTE V5.3，因为他们可以将现有的测量程式轻松转移到S530，而且现有测试仪和新的S530系统可以共用同一个测试计划。

结合了30年的参数测试代码开发实务经验和市场上最快、最先进的系统硬体优势，吉时利进一步将KTE测试开发和执行环境扩展至S530系统。S530仪器提供程式控制监控等参数测试应用要求的高速和广泛测量范围。

对于已经使用KTE较早版本的客户来说，KTE V5.3加速并简化了S530测试系统到测试平台的整合。

同一种测试方法和测试方案适用于所有吉时利自动参数测试系统，这不仅缩短了使用多个系统的测试工程师和操作人员的学习过程，而且在测试平台上增加新的高速系统，或取代较早期平台时提供平稳的转换路径，进而保护晶圆厂的测试开发投入。

使用者只需重新编译和重新建立多年来为更早吉时利系统开发的用户资料库，只需进行少量的除错下，就能继续在S530上使用这些资料库。

KTE V5.3简化了建立条件测试顺序的新用户撷取点(user access point；UAP)原始码以及制订S530的系统工作流程。为早期吉时利系统开发的UAP原始码在少量的调整下，适用于S530系统。

KTE的工具对吉时利所有参数测试平台都提供完全相同的功能。S530的KTE适和在标准工业PC的Linux作业系统上运作，可保持长期的稳定性也易于维护。这项软体已针对高速生产测试环境最佳化了速度，也提升了可靠性。运作KTE V5.3的S530系统能实现程式控制监控、过程可靠监控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V测量。S530系统特别针对某些生产参数测试环境进行优化，包括必须配合广泛产品组合的环境，必须维持广泛应用灵活性的环境，或快速测试方案开发。