延续投资效益 晶圆厂投资测试软体不手软

对于量测业者来说，测试系统新旧版本相容性是新版本能否成功的关建之一。量测业者吉时利致力于让新测试系统高度相容于较早的系统，以支援吉时利参数测试客户。推出的新版本测试环境（KTE）半导体测试软体--KTE V5.3，是专为配合程式控制监控方案产品线S530参数测试系统使用所设计。预估可保持高度的软体相容性可使转移路径更为平顺，并能保护晶圆厂的测试软体投资。

测试开发和执行软体平台KTE，全球有数百家半导体晶圆厂采用。吉时利进一步将KTE测试开发和执行环境扩展至S530系统。S530仪器提供程式控制监控等参数测试应用要求的高速和广泛测量范围。现在，吉时利的S530测试系统利用这个经过业界长期验证的软体平台在最严苛的生产环境中实现了灵活的测试计划开发和高速测试。

对于已经使用KTE较早版本的客户来说，新版本加速并简化了测试系统到测试平台的整合。首先，同一种测试方法和方案适用于所有吉时利自动参数测试系统，缩短了跨系统的学习过程，而且在测试平台上增加新的高速系统，或取代较早版本的的转换路径。再者，使用者只需重新编译和重新建立旧有的用户资料库，只需进行少量除错，就能在新版本继续使用这些资料库。

再者， KTE V5.3简化了建立条件测试顺序的新用户撷取点（user access point；UAP）原始码，并制订新版本的系统工作流程。为早期吉时利系统开发的UAP原始码在少量的调整下，适用于新系统。而所有 KTE工具对吉时利所有参数测试平台都提供完全相同的功能。也就是说，现有吉时利S400和S600系列参数测试仪用户，可以将现有的测量程式轻松转移到S530，而且现有测试仪和新的S530系统可以共用同一个测试计划。

S530的KTE适合在标准工业PC的Linux作业系统上运作，运作KTE V5.3的S530系统能实现程式控制监控、过程可靠监控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V测量。