NI参加2012年汽车测试及质量监控博览会

美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)于2012年9月18日至20日参加在上海光大会展中心举办的2012年汽车测试及质量监控博览会。在此次汽车测试与质量监控博览会上面，NI联合多家业内资深的合作伙伴集中展示了在汽车领域多项前端应用和解决方案。

NI公司的产品几乎被所有的汽车OEM与一级供应商所采用。因为具有领先的I/O、灵活的硬件、强大高效的LabVIEW平台，用户可以创建适合多种应用的解决方案。目前，NI的产品涉及了快速控制原型、汽车终端测试、TEST Cell的测量与控制、硬件在环、车载测试与记录等几大领域。在此次博览会上NI带来了下列几项产品的展示:
· μs级电机高速仿真，为目前最热门的新能源汽车的前期仿真和硬件在环应用带来突破性的进展;
· CAN、LIN、FlexRay总线的综合测试应用;
· DIADem上的碰撞测试与分析
· 以模块化仪器PXI以及嵌入式平台CompactRIO为核心的多项应用方案
与此同时，NI携手几家业界资深合作伙伴(北京恒润科技、苏州凌创电子、上海聚星仪器和上海其高电子)分别就ECU硬件在环、汽车综合电子系统测试、车载数据记录和汽车NVH测试等等提供了完整的解决方案。展会现场多家合作伙伴也提供了他们对于整车厂商和一级供应商提供的成熟解决方案。
除了产品展示之外，在展会首日应组办方邀请，NI资深行业工程师以“NI推动汽车行业关键应用的发展”为题作了主题报告，深入分析了当天几个热门领域话题，包括新能源汽车及电气化、燃油经济性提升、安全性与新26262标准、整车或发动机台架测试、及Telematics综合测试等汽车电子的几大发展趋势，以及NI对应提供的解决方案。同时NI的合作伙伴也就他们多年来在汽车行业的应用作了深入介绍。
相信通过此次博览会，客户一定可以就NI在汽车电子测试领域的理念和产品有一个较全面的了解。