惠瑞捷第250台V93000 Port Scale射频测试系统发货

惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布，其第250台V93000PortScale射频测试系统已经出货。这一里程碑标志着该系统自2007年推出以来，迅速被集成设备制造商（IDM）、无晶元半导体公司及其外包半导体封装测试（OSAT）合作伙伴等客户所采用，在市场上取得了骄人业绩。目前市场上的领军企业纷纷采用该平台，对2G、3G和4G蜂窝网、蓝牙、WLAN、WiMAX和GPS等各种射频器件进行测试。

射频半导体器件是当今众多消费电子设备的关键组件。半导体制造商为缩小封装体积和降低制造成本，将更多的射频功能集成到可支持多个通信协议的单个芯片上。这些IC芯片的射频端口数量增加，射频带宽加大，若要实现经济可靠的批量生产，就需要先进的测试能力，同时还要维持低测试成本。

惠瑞捷V93000PortScale射频系统可提供多达96个射频端口，并具备了八路并行测试能力，其高效率的多路并行测试能力可实现最佳的数据吞吐量，并将测试成本降至最低。该测试仪具有可扩展性，以及可以根据客户的具体需求配置所需的能力和定价。它既可以用于测试功率放大器、调谐器和收发器等低集成度器件，也可以用于测试高集成度射频器件（内含集成混合信号、数字、电源管理以及嵌入式或堆栈式内存等电路）。此外，借助于V93000通用架构，客户所有的射频产品和系统芯片产品线均可以使用同一测试平台进行测试，而无需再针对不同的应用细分市场采用多个测试平台。

惠瑞捷半导体科技有限公司系统芯片测试解决方案副总裁Hans-JuergenWagner表示：“我们的PortScale射频系统具有可扩展性，这使我们的客户可以灵活地应用各种程度的射频器件：高集成度器件、低集成度器件或是其中间器件。这再次证明了V93000平台无与伦比的能力，可为各种应用提供最经济有效的解决方案，充分发挥该平台的作用可为我们的客户带来最高的投资回报。”