爱德万8Gbit/s数位模组 满足SoC高速测试需求
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近日,爱德万测试(Advantest)新推出的T2000 8Gbit/s数位模组(8GDM),满足了系统单晶片(SoC)装置各式介面高速测试需求,包括序列式、并行式,以及记忆介面如PCI-Express与双倍资料传输率(DDR)连接等。该公司并将于今年12月5~7日,在日本千叶县幕张国际展览中心举办的SEMICON Japan国际半导体展上展出T2000 8GDM。
爱德万SoC测试事业体执行长暨执行副总裁Toshiyuki Okayasu表示,全新T2000 8GDM的密度更高、效能更强大,支援多重时域高速介面的复杂SoC装置测试,并具备专为系统层次的功能性测试所设计的FTA功能,可望扩大该公司的市场占有率。
多功能T2000 8GDM可支援各种SoC介面测试,资料传输率高达8Gbit/s,主要功能包括时脉资料回復(CDR)、抖动注入、输入/输出(I/O)死带消除、多重闪控操作等。此模组涵盖在T2000增强型性能解决方案(EPP)中,具功能性测试抽象化功能,将进一步缩短週期时间并简化除错。
爱德万所研发的模组与测试机,不仅拥有高效能运作能力,更可提供高产能、多使用者环境及并列同测功能,达到降低测试成本、加速上市的目标,是半导体厂商面对全球布局挑战不可或缺的设备。