安捷伦参加国际无线年会及展览

日前，由IEEE MTT-S（IEEE微波理论与技术分会）和中国电子学会微波分会联合举办的第二届《国际无线年会》（IEEE IWS2014）在西安绿地笔克国际会展中心顺利落幕。作为全球最大的测试测量公司，安捷伦科技(NYSE：A)是本次会议的白金赞助商，携手合作伙伴精心准备了5个展台，展出了最新的测试测量解决方案，陕西省副省长李金柱出席了此次展览，并参观了安捷伦展台。展会同期，安捷伦还举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”和“航空航天和国防电子测量技术讲座”，共吸引了近350人与会。

陕西副省长李金柱参观安捷伦展台

研讨会现场

安捷伦科技本次展出涵盖了毫米波/T赫兹、雷达和电子战、复杂信号产生与分析、4G无线通信、进阶微波器件测试、高速数字电路分析等内容，更是首次在国内展示了325GHz高精度频谱仪和信号源等样机和系统方案，为客户和业内专家展示了安捷伦领先的射频微波测试方案。

演示安捷伦解决方案

展览同期，为了帮助国内客户深入了解微波器件特别是放大器、变频器等有源器件的测试技术，安捷伦举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”，安捷伦元件测试集团首席科学家Joel Dunsmore 结合现场实物测试演示，会为专业客户进行了4小时的有源器件测试技术剖析。深入讲解了测量评估放大器和混频器等复杂有源微波源器件的最新技术、有效提高校准精度和测试效率的方法、夹具内测试精度优化技术以及大功率测试的优化方法等。

而同期举办的“航空航天和国防电子测量研讨会”则与国内用户一起分享了目前的热点题目，内容涵盖了国防电子、雷达和电子战、微波和通信领域等共计10多个前沿课题。翔实的内容，专业的听众，深度的交流，为国内专业人士和国际顶级专家之间以及国内专业人士之间搭建了良好的学术和产业交流机会。