NI PCI示波器提高了测试速度和通道密度，并降低了成本

----全新示波器提供高达2 GS/s，以及每个设备8个通道的特性
　　新闻发布——2007年4月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）最新发布了2款广受欢迎的高速高密度数字化仪/示波器模块的PCI版本，将NI高速PCI产品的速度进一步提高到2 GS/s，并降低了每通道的成本。
　　

　　NI PCI-5152通用数字化仪可将台式PC转成一台功能齐全的示波器，提供每通道2 GS/s的实时采样率，或在两个通道同时采集的情况下提供1 GS/s的实时采样率。对于重复信号，该模块具有一个等效时间采样（equivalent-time sampling, ETS）模式，来实现高达20 GS/s的采样率。该板卡的特性包括300 MHz带宽，50 Ω和1 MΩ软件可选的输入阻抗下100 mV 至10 V的量程。工程师们可以通过软件对PCI-5152数字化仪进行自定义，应用领域涉及半导体芯片特征表征、超声波非破坏性测试（ultrasonic nondestructive test，NDT）、光学相干X线断层摄影（optical coherence tomography，OCT）和质谱分析等。
　　

　　PCI-5105 8通道、60 MS/s、12位数据采集卡在增加系统通道密度的同时还可以降低测试成本。该设备可在多模块间实现皮秒级同步的精度，是线性和相控阵超声波NDT等构建高通道数系统的理想之选。
　　
　　The NI-SCOPE驱动软件可用于所有NI数字化仪模块，包括50多种内置的用于时域和频域应用的测量和分析函数。工程师们可以将这些全新的数字化仪与一系列NI硬件（包括其他数字化仪、信号发生器、高速数字I/O和多功能数据采集设备）相集成，来创建自定义的测量解决方案。PCI-5152 和PCI-5105数字化仪还可在众多NI软件平台上运行，包括NI LabVIEW、LabWindows™/CV和TestStand，以及C++、C#和.NET等通用开发环境。
　　
　　应用方案: NI提供完整的数据记录平台
　　最新研讨会： 数据记录高级应用研讨会