安捷伦的检测创新在两项重要会展中赢得工业奖

安捷伦科技（NYSE:A）近日宣布，公司最近推出的检测创新在四月份的两项重要会展中赢得几项工业奖。在Nepcon Shanghai 2008上，Agilent Medalist x6000自动X射线检测解决方案赢得SMT China杂志颁发给检测（AXI门类）的第二届SMT China远见奖。今年早些时候，Medalist x6000也荣获Test and Measurement World 杂志2008 年最佳测试奖的荣誉奖。作为Medalist VTEP v2.0 供电无矢量测试套件组成部分的Agilent网络参数测量技术，也在Nepcon Shanghai 2008上赢得测试系统∕设备门类中的电子制造（EM）亚洲创新奖。Agilent 公司的覆盖扩展技术是VTEP V2.0供电套件中最新增添的有限接入解决方案，在拉斯维加斯的APEX展会上被选定为 IPC创新技术中心奖的胜出者。行业主导出版物和组织把这些奖项授予市场上最富创新的技术、应用、产品和服务。Agilent 测量系统部营销总监NK Chari表示：“对业界认可我们在检测领域的创新，我们深感荣幸，我们要通过不断创新推出最完整的成套检测解决方案，以帮助制造商应对技术和商务的挑战。”其它信息 Agilent Medalist x6000自动X射线检测系统是世界上最快的3-D在线AXI解决方案。它能降低转换成本和资金投入，更把缺陷覆盖率提高到95%以上。制造商在为克服各种有限接入问题而寻找通用的工具套件时，AgilentMedalist VTEP v2.0供电无矢量测试套件是领先的在线测试武库。它包括另一项获奖技术 — iVTEP — 可用于测试超小封装的器件，以及网络参数测量和覆盖扩展。Agilent 也提供业内领先的自动焊膏和光学检测解决方案，如下一代光学系统，低对比度元件定位，固态建模模型，以及改进的焊膏分析算法。在AOI产业中，这些能力可帮助制造商提供最高的故障覆盖率，速度和灵活性。