罗德与施瓦茨与香港科技园携手创建LTE联合测试实验室

21IC讯 总部设于德国慕尼黑的全球高科技电子企业罗德与施瓦茨公司，联同香港科技园公司成立的长期演进技术（LTE）联合测试实验室，于今天正式启用。全新的实验室位于香港科学园的无线通讯测试实验室内，旨在为设备制造商、硬件开发商、基础设施及无线方案供应商，于产品开发周期、工程验证及功能性测试方面，提供利于测试3GPP的环境，造就公司孕育意念、创新及发展LTE技术。此外，实验室亦会提供可靠性及失效分析设施，以及其他支持服务。
 

“罗德与施瓦茨公司非常高兴参与此次的合作，与香港科技园公司一同推动LTE技术发展，”罗德与施瓦茨公司国际业务东区高级副总裁Heino Gregorek 先生表示，“我们多年来都为手机网络运营商、检测公司、芯片厂商与用户设备制造商提供测试方案，而这次与科技园公司的合作，将有助于我们与科技公司在LTE技术演进的早期阶段开展紧密合作。”
 

香港科技园公司企业拓展及科技支援副总裁杨德斌先生说：“科技园公司一直致力建立香港成为区域内的科技枢纽。LTE技术联合测试实验室是推动香港成为无线通讯技术领域上世界级枢纽的重要一步。能够与业内翘楚罗德与施瓦茨公司合作提供LTE测试服务，我们感到十分鼓舞。”
 

为支持联合实验室，罗德与施瓦茨公司将提供相关技术设备包括R&S®CMW500宽带无线通信测试仪，R&S®DST200射频诊断暗室，R&S®SMU200A矢量信号发生器、R&S®FSW信号与频谱分析仪及R&S®ZNB矢量网络分析仪，以及有关测试软件，如AMS32; 此外，为本地市场提供LTE技术及设备操作的技术转移及培训。香港科技园公司将会负责管理实验室，并为客户提供技术支持。

香港科技园公司与罗德与施瓦茨今日为于香港科学园成立首间长期演进技术（LTE）联合实验室签署谅解备忘录。图为签字仪式的合影，出席嘉宾包括（从左至右）：
Taro Eichler 博士（罗德与施瓦茨）、杨天宠先生（科技园公司）、吴国才先生（投资推广署）、葛里格先生（罗德与施瓦茨）、陈荫楠先生（科技园公司）、杨德斌先生（科技园公司）、黄鸿先生（罗德与施瓦茨）、郭子良先生（罗德与施瓦茨）及杨潇先生（罗德与施瓦茨）