“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器”项目启动

近日，“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器” 项目启动会召开。该项目被列为科技部国家重大科学仪器设备开发专项，由中国地质科学院地质研究所牵头，众多研究机构和单位参与。

该项目研究主要是以飞行时间质谱(TOF)作为质量分析器，在几十微秒之内完成全质量谱分析，提升离子通过率。预计该TOF同位素测量精度0.5‰，分辨率20000，飞秒激光为电离源，灵敏度高。该项目研发将大大推动我国地球化学和宇宙化学的发展，研制的相关仪器将用于月球和陨石样品的氧同位素和稀土元素分析，以及对一些矿床惊喜分析。

据悉，大连化物所作为第二承担单位，负责二次离子质谱（SIMS）核心部件TOF质量分析器的研制。该所两位研究员承担了“精度及高分辨飞行时间质谱分析器”和 “二次中性粒子后电离技术”两个子课题。

SIMS可进行微区成分成像和深度剖面分析，提供众多微观结构、组成分析信息，被广泛应用于解决纳米材料、储氢材料、航天材料、催化材料等研究难题，同时也被应用于地质科学，核技术、材料科学、生命科学、文物考古等领域。