阻抗分析仪IM3570（日置）

概要
阻抗分析仪IM3570是实现了测量频率4Hz~5MHz的日置首款高精度•高速阻抗分析仪。根据客户的用途，可以与原来本公司的LCR产品一样选择将测量值用数值显示模式来显示频率/电平特性的测量图表。

定位
IM3570是类似本公司以往产品LCR测试仪3532-50，并较其功能更为强大的产品。特别加强了频率的扫描测量、高速测量、低ESR测量、DCR的连续测量和测量稳定性，是HIOKI首款能在扫频测量时显示图表的产品。此外，这款产品的测试速度、操作性、价格都非常符合现今市场需求，极具行业竞争性。

特点
关于测量精度，特别是低阻抗的操作反复精度比起以往产品都提高了一位，所以比较适合测量多mΩ、低ESR功能性高分子电容。
另外，测量时间最快为0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF时），所以能够高速测量共振频率、发声零件、振动传感器等，适合用于生产压电元件的生产线。
最大的优点是，与以往产品相比可高速的切换测量条件后进行测量。因此，以往的装备多台测试仪的系统现在用一台IM3570就能搞定。比如，测量线圈，DCR测量（电阻计）和1MHz的L-Q值测量（LCR）都可以用IM3570测量。

主要应用
压电元件（发声零件、滤波器）、高分子电容的生产线上的检查中，另外频率扫描测量也可用于电池材料评估等多种用途中。