全新NI PXI射频开关为规模化测试系统延寿提速

新闻要点
• NI PXI/PXIe-2543固态开关模块能够以更加快速的开关以及无限的机械寿命周期，对高达6.6 GHz的射频信号进行路由。
• 对于许多规模化的生产测试应用，包括半导体和移动终端测试，新的射频开关不但增加了测试吞吐量且保证了长期的测量可重复性。
• 开关模块进一步扩大了NI PXI模块化仪器的板卡家族，帮助射频工程师面对最新的挑战。

21ic讯 美国国家仪器公司近日发布新的NI PXI/PXIe-2543固态射频多路复用器，为工程师提供了一个长期高效的解决方案来对高达6.6GHz的射频信号的路由进行优化。相较传统的机电开关解决方案，NI PXI/PXIe-2543的固态构架能够实现更加快速的开关以及多次重复测量。

 “新的NI PXI/PXIe-2543固态开关是基于行业领先的NI PXI平台的成功经验构建而成，其固态架构为射频应用提供了高速度和可靠性。”美国国家仪器有限公司测试市场总监Charles Schroeder如是说道，“使用这个开关，自动化测试领域的工程师可以整合并同步许多PXI仪器，包括射频发生器和分析仪，从而最大化测试系统的投入产出比并能够进一步提高精确度和吞吐量。”