是德科技边界扫描分析仪有突破！提供改进的测试效率、覆盖范围和吞吐量

是德科技公司日前宣布，Solution Sources Programming Inc.(SSP)通过使用单机 Keysight x1149 边界扫描分析仪或与 Keysight i3070 在线测试系统搭配使用，已经在边界扫描测试上有所突破。SSP 是一家全面测试与测量解决方案的供应商。

11 个 SSP 重点项目均采用了 Keysight x1149 解决方案。解决方案覆盖了低接入率和零接入率电路板，以及由 50,000 个结点和超过 9,250 个网格组成的复杂网络电路板。

SSP 共同创办人兼高级工程经理 Eric Harris 表示：“当今先进的测试技术使得传统在线测试(ICT)的应用范围一再缩减。许多客户坚信如果电路板接入率降至 50 % 以下，就应当另寻其他的在线测试方法。借助现代平台和夹具技术，我们可以为客户提供始终如一的支持，帮助他们挽回失去的测试覆盖范围，并最终为他们的合同制造商合作伙伴提供所需的故障诊断服务，以确保他们的生产线上不存在制造缺陷。只要搭配合适的工具，一切都会变得简单。”

高密度网络电路板在应用传统在线测试技术时面临许多问题。譬如，没有给最佳测试点提供足够的物理空间、高速信号传输和信号完整性问题，以及单个电路板上有时存在多个边界扫描链。外形小巧的是德科技台式 x1149 可以轻松地与在线测试系统匹配，它不仅支持功能强大的测试功能组合，具有易用性并且已经为产品制造做好准备。x1149 凭借独有的 Autobank 故障诊断功能还能够加快测试速度。

Harris 补充道：“x1149 和 i3070 的结合给我们带来了显著的成果。比如有的客户的装配线上有超过 90 个 DDR，使用传统在线测试方法则会因为测试时间过长而无法进行。而我们的团队不仅能够顺利完成这些 DDR 在线测试，并且测试时间还不到 60 秒。但传统方法则要花费超过五分钟时间。”

除此之外，具有有限测试接入或零测试接入的电路板也能应用这类工具进行测试，譬如平板电脑或智能手机。是德科技提供独家的覆盖扩展技术 (CET)及其功能强大的硅钉 (Silicon Nails) 边界扫描功能，这有助于扩大在电路板主要区域的测试覆盖范围。

SSP 总裁兼共同创办人 Dan Orlando 表示：“我们的电路板有低于 25% 的接入率。通过整合在线测试和 x1149，我们已经把测试覆盖范围恢复到了 90%。我们的专业技术和工具(例如 x1149)已经使得测试覆盖范围得到极大改善，并且扩展了全部测试领域中的测试功能——包括平板电脑、SSD 固态硬盘和服务器以及网络 PCBA 等。”

Orlando 补充道：“随着电路板设计的复杂程度加深，SSP 继续埋首创新，旨在让客户在 Keysight x1149 平台上更好地运用丰富的边界扫描技术。x1149 专为制造测试而设计。它的图形用户界面一目了然且操作简单，可以让我们的团队迅速进行测试开发和调试，并在客户生产线上快速实施电路板测试。不断推陈出新的工程设计每一次都在挑战传统的生产测试理念，让我们感到骄傲的是，我们制定的生产计划不仅对客户的合同制造商有所帮助，而且还能及早查到生产线上的故障，最终保护他们的品牌资产。”

是德科技产品开发团队不断改进 x1149 的测试应用功能，并与电子行业领先企业密切合作，通过开发创新的边界扫描解决方案来增强产品质量。

是德科技测量系统事业部市场营销和支持总监 NK Chari 称：“SSP 将其专业的测试开发技术与 x1149 的扩展边界扫描测试功能结合在一起，可使测试覆盖范围达到更高的水平。另外，当前高度复杂的 PCBA 所需的测试时间也在大为缩减，包括网络和服务器卡、平板电脑和智能手机等消费类电子产品中的 PCBA。我们为客户提供随时可用的应用，期待帮助他们更好地进行边界扫描测试。”