用三维光学测量系统进行测量时,由于周围环境、人、设备等各方面的影响,测量数据中常常会掺入噪声。针对体外飞点和离群成簇噪声分别采取基于K_近邻搜索的平均距离去噪算法和改进的基于近邻点距传播的去噪算法进行处理,取得了较好的去噪效果。针对直接测量或者多次测量拼接获取的点云存在“粗糙毛刺”和点云多层重叠的状况,采用基于MLS的拟合平面投影光顺算法
业内领先的测量仪器供应商爱德万测试集团于2012年11月14日推出全新的多视觉测量扫描电子显微镜(MVM-SEM: Multi-Vision Metrology Scanning Electron Microscope):晶圆扫描电镜E3310,利用爱德万测试专有的电子束
【图1】用非接触三维测量仪“ATOS Triple Scan”测量时的情形。照射测量对象的条纹状辅助光的光源采用蓝色LED,可轻松测量具有光泽面及黑色表面的物体。(点击放大) 【图2】使用Triple Scan方式测量的效果。此
目前,哈量集团三维测量传感器的研发取得了阶段性的进展,在测量范围、测量精度等方面均达到国外同类产品的技术水平。 该传感器设计被为三维扫描式测头,主要用在哈量集团生产的齿轮测量中心上。哈量集团针对齿