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优化测试和调试流程：提升FPGA设计的可靠性
在现代电子系统设计中，FPGA（现场可编程门阵列）已成为实现高性能、高可靠性系统的关键组件。然而，随着FPGA设计的复杂性不断增加，测试和调试流程也面临着巨大的挑战。为了提升FPGA设计的可靠性和可维护性，优化测试和调试流程显得尤为重要。本文将探讨如何通过内建自测试、扫描链插入以及调试逻辑等方法来优化FPGA的测试和调试流程，并结合示例代码进行说明。
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如何通过优化测试和调试流程来提高FPGA设计的可靠性
在复杂多变的电子系统设计领域，现场可编程门阵列（FPGA）以其高度的灵活性和可配置性，成为实现高性能、高可靠性系统的关键组件。然而，FPGA设计的复杂性也带来了测试与调试的巨大挑战。优化测试和调试流程，不仅能够有效提升FPGA设计的可靠性，还能加速产品上市时间，降低开发成本。本文将从多个方面探讨如何通过优化测试和调试流程来提高FPGA设计的可靠性，并结合示例代码进行说明。
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TD商务终端的路测与优化测试
在中国移动集团公司每年组织的TD-SCDMA（以下简称TD）网络自动路测考核中，各省会城市、部分地级市都取得了不俗的成绩，表明TD网络已实现较好的连续覆盖。但是，对于广大的用户来说，TD终端在使用过程中总会遇到这样
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