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是德科技晶圆级解决方案平台完美集成低频噪声测量
是德科技公司(NYSE：KEYS)宣布推出最新款的高性能先进低频噪声分析仪(A-LFNA)，旨在实施快速、准确、可重复的低频噪声测量。
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中国赛宝实验室采用是德科技低频噪声测量系统进行器件可靠性研究
是德科技公司(NYSE：KEYS)日前宣布，中国赛宝实验室在其半导体器件(包括 MOSFET、HEMT 和 TFT等)可靠性研究中成功采用 Keysight EEsof EDA E4727A 先进低频噪声分析仪(A-LFNA)实施闪变噪声(1/f 噪声)和随机电报噪声
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高阻器件低频噪声测试技术与应用研究--高阻样品噪声测试解决方案
3.2 高阻样品噪声测试解决方案为解决国内外现有高阻器件低频噪声测试技术中存在的问题，本文设计了两种噪声测试技术作为解决方案，分别是一种电压噪声测试技术和一种电流噪声测试技术。这两种技术分别解决了前文中描
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高阻器件低频噪声测试技术与应用研究--测试技术介绍
电压噪声测试系统的实现是一套同时基于软件和硬件平台的测试系统。其中硬件平台由前端适配器、若干同轴电缆、放大电路、数据采集卡、计算机组成。软件平台由数据采集软件模块、数据分析模块、数据存储模块组成。硬件
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高阻器件低频噪声测试技术与应用研究文献汇总,包括技术理论及解决方案
电子器件或材料按其等效电阻大小可划分为：高阻器件、中阻器件、低阻器件。根据传统噪声测试原理，改进已有噪声测试技术和测试方法还可以继续测量一些等效阻值在该范围之外的器件的噪声，这些器件被定义为低阻器件或
