扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的 ATPG(自动测试向量生成)。扫描 ATPG 是一项成熟的技术，特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断，有助于进行分析并改进。
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