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硬件可测试性设计规范：保障质量与效率的关键
在快速发展的科技领域，硬件产品的复杂性和集成度日益提高，这对硬件的可测试性提出了更高要求。硬件可测试性设计（DFT, Design for Testability）作为一种重要的设计方法，旨在通过优化硬件设计，提高测试效率、降低测试成本，并确保产品的质量和可靠性。本文将深入探讨硬件可测试性设计规范，包括其重要性、设计原则、实施策略以及未来发展趋势。
在快速发展的科技领域，硬件产品的复杂性和集成度日益提高，这对硬件的可测试性提出了更高要求。硬件可测试性设计（DFT, Design for Testability）作为一种重要的设计方法，旨在通过优化硬件设计，提高测试效率、降低测试成本，并确保产品的质量和可靠性。本文将深入探讨硬件可测试性设计规范，包括其重要性、设计原则、实施策略以及未来发展趋势。
