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国产化叠层电容工艺的失效机理与可靠性研究
通过对国产运算放大器的一项失效分析研究,揭示了由于工艺变更引起的叠层 MIS电容短路是导致器件失效的主要原因。在低电场条件下,电容表现正常,但在高电场条件下,由于 Fowler-Nordheim 隧穿效应,热电子碰撞引发的缺陷积累最终导致了电容的短路失效。通过 Sentaurus TCAD 仿真分析,验证了界面掺杂原子浓度差异对氧化层生长速率的影响,并提出了相应的工艺改进建议,进而提升国产芯片的可靠性。
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干货分享 | FMEA何时做？谁来做？
我们在做FMEA的时候一定要把FMEA当作一个主动预防的工具，在有新设计、新应用、工程变更等情况时就要开始做FMEA了。另外想要做好FMEA，就要建立FMEA团队，只有团队协同，FMEA才能顺利进行。
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电感的失效分析
我们通常所说的电感指的是电感器件，它是用绝缘导线(例如漆包线,沙包线等)绕制而成的电磁感应元件。
