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光电倒置开关及其可靠性检测系统设计
引言 存储测试系统的上电方式是一个非常重要的环节。许多测试都是在保温一定时间后进行的，而测试装置都是在保温前放到被测物体中，这就要求在保温过程中使测试装置的功耗降到最低，倒置开关的作用就
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新型单片机ADμC812在存储测试系统中的应用
1 引言ADμC812是美国ADI(Analog Devicelnc)公司生产的高性能单片机，是全集成的12位数据采集系统。它在芯片内集成了高性能的自校准多通道ADC(8通道12位高精度)、2个12位DAC以及可编程的8位MCU(与8051兼容)。片内
