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新型工业扫描电镜（SEM）的特色突破
工业扫描电镜作为微观世界“眼见为实”的仪器，在近二十年发展历程中性能逐步提高，却仍有空间进行0到1的原创革新。 工业电镜为我国新型产业从“跟跑、并跑&rdqu
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扫描、透射电镜、能谱仪等电子显微学发展探讨
近日，“2012年度北京市电子显微学年会”成功召开，共有200多位专家与会，共同就北京电子显微学的学术及技术水平，以及在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流等进行交流探讨。此次会议由北京市电镜学会、北京
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爱德万测试推出全新的晶圆扫描电镜E3310
业内领先的测量仪器供应商爱德万测试集团于2012年11月14日推出全新的多视觉测量扫描电子显微镜(MVM-SEM: Multi-Vision Metrology Scanning Electron Microscope)：晶圆扫描电镜E3310，利用爱德万测试专有的电子束
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扫描电子显微镜的特点及工作原理
2.4.1 扫描电镜的特点 与光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点： (一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 (二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。 (三) 样品可
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扫描电子显微镜原理和应用
扫描电子显微镜原理和应用 2.4.1 扫描电镜的特点 与光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点： (一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 (二) 样品制备过程简单，
