故障植入单元

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使用故障植入单元(FIU)进行电子测试

1. 为何需要硬件故障植入？在许多硬件在环(HIL)试系统中，硬件故障植入用于在电子控制单元(ECU)与系统其他部分之间添加信号故障，进而测试、特性描述或验证ECU在特定失效条件下的性能。故障植入通常用

测试测量
2018-06-25

电子测试故障植入单元 fiu