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Pasternack推出一系列用于高速数字测试的40GHz时延匹配电缆线对新产品
Pasternack公司推出一系列用于差分信号、比特误码率测试及眼图等10Gbps~28Gbps高速数字测试的时延匹配电缆新产品。
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数字测试式LCD控制驱动电路测试方法
随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其核心部件——LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的测试是在LCD电路专
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安捷伦展示最新射频微波与高速数字测试解决方案
日前，首届电子设计创新会议(EDI CON2013)在京举行。作为全球最大的测试测量公司，安捷伦科技是本次会议的白金赞助商，安捷伦以“为中国的未来培育创新设计”为本次会议主题，集结来自全球各地的专家和最新
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安捷伦在(EDI CON)展示最新射频微波与高速数字测试解决方案
日前，首届电子设计创新会议(EDI CON2013)在京举行。作为全球最大的测试测量公司，安捷伦科技(NYSE：A)是本次会议的白金赞助商，安捷伦以“为中国的未来培育创新设计”为本次会议主题，集结来自全球各地的专家和最新
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Molex推出用于高速数字测试产业的垂直PCB装接结构
21IC讯 Molex公司推出2.4mm精密压接安装测试连接器产品，这是业界唯一的工作于50 GHz的高速垂直PCB装接结构。与传统的末端装接连接器(end-launch connector)相比，独特的垂直PCB装接结构为2.4 mm精密压接安装测试连接
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采用NI LabVIEW及PXI为海军飞机通信开发数字测试设备
Author(s): Lawrence M. David Jr - ALE System Integration Terry Stratoudakis, P.E. - ALE System IntegrationIndustry: ATE/Instrumentation, Government/Defense, Aerospace/AvionicsProducts: LabVIEW, P
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安捷伦推出在线数字测试解决方案知识中心
安捷伦科技公司日前宣布在线数字测试解决方案和知识中心已经上线。这个学习网站将为客户提供一系列重要的、用于高速数字测试的工具，包括 USB 3.0、DisplayPort 和 HDMI、SATA/SAS、PCI Express、MIPI 与内存。
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数字测试仪下的参数测试单元的设计
随着电子技术的迅速发展，数字集成电路得到了广泛的应用，数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的，各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能最主要的
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数字测试仪下的参数测试单元的设计
随着电子技术的迅速发展，数字集成电路得到了广泛的应用，数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的，各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来。
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Aeroflex 推出具备数字测试能力的5800 系列 ATE 系统
Aeroflex 推出具备数字测试能力的5800 系列 ATE 系统。5800系列专门为从事混合信号测试、器件编程、功能测试、在线测试（ICT）编程或简单协议通信的工程人员而设计，采用开放式架构或高度可配置架构，便于适应不断演
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科利登数字测试被十大用户采用
科利登系统有限公司日前宣布：科利登已经有超过150套的3.2Gbps数字测试设备在Sapphire系统上被它全球十大主要客户所采用，这些客户有著名的fabless设计公司，测试承包商及IDM领导厂商。科利登D-3208高性能设备可用于
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NI驱动软件扩展数字测试能力
数字测试工程师现在能够使用带有NI高速数字设备的新型国家仪器仪表NI-HSDIO 1.4驱动软件，执行严格时间数字测试应用，如比特误差率测试（BERT），刺激回应测试及通过/失败制造测试。该新的驱动可免费获得升级并对所有
