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NI TestStand处理用于航空电子的老化测试模型
Author(s): Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business GroupIndustry: Aerospace/AvionicsProducts: NI TestStand
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基于边界扫描的板级互连测试模型研究
0 引 言 边界扫描技术是联合测试行动组JTAG(Joint Test Action Group)于1987年提出一种电路测试方法，并于1990年被IEEE接纳，形成了IEEE 1149．1标准。因此边界扫描技术也被称为JTAG测试技术。随着大规模集成电
