SAS规范定义了不同的测试点，以适应不同的测试内容的要求。这里面包括可以通过测试夹具测试到的测试点IT/CT以及在电缆或背板末端的IR/CR，在芯片内部的发射端在封装之前的芯片Die上的测试点ET，以及
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