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示波器测量基础
通常，在进行示波器测量时，需要考虑的重要指标有：1、带宽2、采样率3、波形捕获率4、存储深度5、触发6、通道数7、探头除以上之外，还有其他一些指标需要考虑：串行总线分析测量与分析显示质量连接和文档价格与趋势等
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Keithley技术文献：半导体C-V测量基础
通用测试 电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外，利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析，包括双极结型
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基于FFT的信号分析和测量基础
1. 基本信号分析计算 分析信号的基本计算包括：将双边功率谱转换为单边功率谱、调整频率精度并绘制频谱、使用FFT，以及将功率和振幅转换为对数单位。 功率谱返回一个数组，包含时域信号的双边功
